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近紅外（NIR）紅外光譜法是材料生產(chǎn)質(zhì)量檢測(cè)過(guò)程中一重要測(cè)試方法，尤其是在種類眾多原材料質(zhì)量控制過(guò)程中。原材料樣品可能為多種物理形態(tài)，如液體、凝膠和固體等多種形態(tài)，故原材料測(cè)試時(shí)，儀器要能方便適用于測(cè)試不同形態(tài)原材料樣品。

利用近紅外光譜儀快速測(cè)試原材料樣品近紅外光譜圖，與已知原料近紅外譜圖比對(duì)，確定樣品主要成分或可能成分，測(cè)試速度快，方便快捷，非常適用于產(chǎn)品質(zhì)量控制過(guò)程中。

該應(yīng)用報(bào)告主要介紹在符合 21 CFR 第 11 部分的規(guī)定的前提下，利用 PerkinElmer Spectrum Two N ™ FT-NIR 近紅外分光光譜儀，建立符合數(shù)據(jù)完整性規(guī)程的測(cè)試模型，從而克服原材料測(cè)試過(guò)程中的多重挑戰(zhàn)。近紅外（NIR）光譜法是測(cè)試固體原材料樣品的測(cè)試方法，與其他分析方法相比（例如拉曼光譜），近紅外測(cè)試更快速、更簡(jiǎn)單，樣品無(wú)需前處理，直接通過(guò)玻璃瓶或者培養(yǎng)皿作為反射采樣附件，對(duì)樣品無(wú)破壞。