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牛津儀器納米操作手OmniProbe的低溫提取(Cryo lift-out)將樣品提取功能擴(kuò)展至低溫樣品（包括用高壓冷凍法制備的樣品）。

低溫-聚焦離子束顯微鏡（Cryo-FIB）的提取功能可以在經(jīng)第三方低溫系統(tǒng)冷卻至-180°C的樣品上操作。通過結(jié)合低溫-透射電子顯微鏡（Cryo-TEM）或低溫-原子探針(cryo-atom probe)可以拓展納米分析的樣品類型和應(yīng)用領(lǐng)域 。

低溫提取裝置由裝配有隔熱探針的定制探針軸組成，通過直接連接到低溫系統(tǒng)的冷指實(shí)現(xiàn)被動(dòng)冷卻。牛津儀器專有的冰附著方法使用時(shí)包含了非獨(dú)占許可。

OmniProbe 200系統(tǒng)具有低溫提取功能，并且可在現(xiàn)場改造。

目前大多數(shù)電池都使用有機(jī)電解質(zhì)，電極和電解質(zhì)之間的界面對(duì)電池的諸多性能有著重要的影響。由于缺乏在高分辨率下直接研究的能力，在這些界面上發(fā)生的許多過程都沒有被很好地理解。低溫提取與低溫TEM/STEM的結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了在這些液-固界面上的高分辨率成像。

雖然液體電池座可以用于TEM成像，但受制于樣品尺寸和液體類型。粘稠的液體（如有機(jī)電解質(zhì)）會(huì)導(dǎo)致液體細(xì)胞的薄窗凸出，由此造成的散射效應(yīng)和電子束寬化會(huì)導(dǎo)致成像分辨率降低。

采用低溫提取，通過冷凍電池，從液-固界面提取截面樣品，利用FIB將樣品厚度減薄至小于100nm，從而可獲得高分辨率的圖像。