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Hatachi日立環(huán)境可控型AFM 5300E原子力顯微鏡
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點擊：
- 2024年9月20日
- 2025年3月20日
- 湖南長沙市
- 日本
- 452次
【產(chǎn)品簡介】
在高真空環(huán)境下一方面可防止樣品表面水膜的形成，提高樣品掃描分辨率和表面物理性能測試測量的準確性，另一方面可通過Q值的提高來提高AFM掃描靈敏度，進而提升圖像的分辨率，同時在真空環(huán)境下測量還可避免易氧化樣品的表面氧化。
【詳細說明】
Hatachi日立XE-NSOM近場掃描光學(xué)顯微鏡
XE-NSOM –用于各種光學(xué)應(yīng)用的完備的AFM 系統(tǒng)
XE-NSOM是Park Systems專為高級光學(xué)研究而精心設(shè)計的一款專業(yè)產(chǎn)品，該儀器具備近場掃描光學(xué)顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡（Confocal Microscopy）功能。XE-NSOM 為此類光學(xué)實驗提供了一整套性能可靠功能齊全的研究檢測系統(tǒng)。
技術(shù)參數(shù)(機械部分)：
1. XY掃描器：100?m×100?m（閉環(huán)）
2. Z掃描器：12?m (可選配25?m)
3. 水平度：100?m線掃描垂直偏差不超過2nm
4. 樣品臺移動范圍：4mm（X/Y），27.5mm (Z)
5. 成像方法： AFM, NSOM
6. 光學(xué)觀察：垂直光路設(shè)計，可直接觀察微懸臂和樣品
技術(shù)參數(shù)(NSOM部分)：
1. NSOM激光光譜：400~900nm
2. 可根據(jù)透射或反射NSOM測量要求選用有孔或無孔微探針
3. 光子檢測：APD 或PMT
技術(shù)參數(shù)(電子部分)
1. 微處理器：600MHz，4800MIPS DSP
2. 模數(shù)/數(shù)模：16位，500kHz采樣頻率
3. 圖像采集：同步自動采集16幅圖像，分辨率高達4096×4096像素
4. 通訊方式：采用基于TCP/IP協(xié)議的通訊方式與計算機聯(lián)接
5. 符合CE認證標準
主要特點：
專業(yè)NSOM和Raman-AFM測量系統(tǒng)
一、 原子力顯微鏡和光學(xué)測量的*結(jié)合
二、 科學(xué)的光學(xué)設(shè)計提供了更寬的觀測角度
三、 多功能的平臺可滿足反射和透射測量要求
四、 適宜光子檢測的便捷式光軸調(diào)節(jié)系統(tǒng)
五、 便于產(chǎn)品升級的模塊化設(shè)計思想