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德國EPK超聲波測厚儀400A，該系列產(chǎn)品具有使用簡便，速度快，可靠性高等特點(diǎn)。

介紹：
高精準(zhǔn)超聲波測厚儀/高阻抗雙晶探頭
脈沖－回波方式　量程達(dá)0.65-400mm
回波－回波方式(透過涂層測量)　量程達(dá)3-25mm
堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機(jī)械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產(chǎn)品檢驗(yàn)。

MiniTest 400系列是德國EPK公司推出的型超聲波測厚儀。該系列產(chǎn)品具有使用簡便，速度快，可靠性高等特點(diǎn)。

超聲波測厚儀具有MiniTest 400全部功能外，新增了下列功能：
探頭自動識別
開機(jī)自動校零
預(yù)置9種常用材料聲速值
數(shù)據(jù)分組
USB接口上傳
聲速測量
設(shè)限測量
zui小值測量
差值測量

配置：
儀器主機(jī)
帶連接電纜的探頭一支
耦合劑（75ml）
2節(jié)5號電池
塑料手提箱
中英文說明書
保修卡

可選配置
階梯試塊，通訊電纜，通訊軟件，高溫探頭等，詳情請咨詢當(dāng)?shù)亟?jīng)銷商。

德國EPK超聲波測厚儀400A技術(shù)參數(shù)：

		400	400A	400B
顯示信息	測量值，聲速值，探頭型號，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組		●	●	●
測量范圍	回波－回波測量：3mm-25mm				●
測量范圍	發(fā)射－回波測量：0.65mm-400mm(不同型號探頭決定不同測量范圍)		●	●	●
示值精度	小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm		●	●	●
單位	公制/英制		●	●	●
聲速范圍	1000m/s - 9999m/s,		●	●	●
增益	自動		●	●	●
增益	手動			●	●
聲速測量	確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值			●	●
探頭識別	自動識別探頭			●	●
零位校準(zhǔn)	開機(jī)自動零位校準(zhǔn)			●	●
測量模式	發(fā)射－回波模式	標(biāo)準(zhǔn)測量：滿足常用的檢測要求	●	●	●
		zui小值測量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測量環(huán)境		●	●
		差分測量：顯示實(shí)際測量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值		●	●
		平均測量：提供2-9點(diǎn)的測量平均值		●	●
		上下限測量：極限報(bào)警		●	●
	回波－回波模式	透過涂層測量基體厚度			●
	快速掃查模式	適用于高溫或需要提高測量速度的測量環(huán)境，每秒10次的測量，可以同時(shí)顯示測量中的zui大值和zui小值		●	●
數(shù)據(jù)存儲	1組2000個(gè)數(shù)據(jù)		●
數(shù)據(jù)存儲	10組5000個(gè)數(shù)據(jù)，動態(tài)分配			●	●
數(shù)據(jù)輸出	USB接口，通過USB接口上傳儀器中存儲的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)			●	●
關(guān)機(jī)選擇	可選擇2分鐘，5分鐘自動關(guān)機(jī)或選擇不自動關(guān)機(jī)			●	●
外形尺寸	130 × 73 × 24 mm(L×W×H)
重量	約190g
工作溫度	-20至50攝氏度
電池	兩節(jié)5號電池，電量顯示，電量不足報(bào)警
工作時(shí)間	不間斷測量不少于80小時(shí)
顯示屏	128×64 背光

可選探頭：

型號	晶體直徑	頻率	測量范圍	工作溫度	簡介
EP8E	8MM	5.0MHZ	4-25MM(E-E) 0.8-300MM(T-E)	-12-+60℃	400B*探頭，具有透過涂層測量模式
EP4	4MM	10.0MHZ	0.65-20MM	-12-+60℃	小管徑探頭
EP6	6MM	7.5MHZ	0.7-50MM	-12-+60℃	主要用于薄壁及小弧面的測量.
EP8	8MM	5.0MHZ	0.8-350MM	-12-+60℃	標(biāo)配探頭，主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。
ECP12	12MM	2.0MHZ	2.0-400MM	-12-+60℃	粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測量.
EHP13	13MM	5.0MHZ	3.0-200MM	-12-+350℃	高溫探頭，主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量，注：測量時(shí)晶體與被測高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.