奧林巴斯 OLYMPUS 渦流陣列探傷儀渦流探頭OmniScan MX ECA/ECT
便攜式渦流（EC）探傷儀用于檢測(cè)金屬部件，其對(duì)工件表面和近表面缺陷的檢測(cè)性能非?？煽?。完整系列的便攜式探傷儀可以服務(wù)于各種各樣的應(yīng)用。渦流探頭生成磁場(chǎng)，磁場(chǎng)在被測(cè)工件中產(chǎn)生電流，電流又會(huì)影響磁場(chǎng)及線圈中電壓的量值及相位。這些探傷儀可以進(jìn)行的應(yīng)用包括對(duì)表面或近表面缺陷的探測(cè)，合金分揀，及螺栓孔的檢測(cè)。
OmniScan MX
經(jīng)過現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證的、可靠的儀器
OmniScan MX是一款已經(jīng)現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證、性能可靠的儀器，其機(jī)身結(jié)構(gòu)堅(jiān)固耐用，可以在嚴(yán)酷、惡劣的檢測(cè)環(huán)境中正常工作；現(xiàn)在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺(tái)。這款儀器緊湊、輕巧，使用兩節(jié)鋰離子電池供電，在電池滿電量時(shí)，可以進(jìn)行長(zhǎng)達(dá)6小時(shí)的手動(dòng)或半自動(dòng)檢測(cè)。
OmniScan MX儀器的8.4英寸顯示屏可以實(shí)時(shí)顯示高清彩色圖像，在大多數(shù)光線條件下，操作人員都可以查看缺陷及其細(xì)微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡(jiǎn)潔、直觀的界面上輕松瀏覽，也可以將USB鼠標(biāo)連接到儀器，方便對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
一個(gè)平臺(tái)、兩款模塊、三種技術(shù)：靈活適用性更強(qiáng)
為了滿足更廣泛應(yīng)用的要求，兩款模塊都提供渦流檢測(cè)（ECT）、渦流陣列（ECA）以及粘接檢測(cè)（BT）C掃描技術(shù)。兩款模塊都與MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C掃描）軟件兼容；要做到這點(diǎn)，只需在各種技術(shù)之間進(jìn)行簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換，操作人員接受少許培訓(xùn)即可。
ECA與ECT別無二致
覆蓋范圍廣，掃查速度快，檢出概率高
渦流陣列 (ECA) 技術(shù)融合了多種傳統(tǒng)的橋式或反射式（驅(qū)動(dòng)器-拾波器）探頭線圈，以便在一次掃查檢測(cè)中覆蓋更大的范圍。此外，每款ECA探頭型號(hào)都經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可在沿探頭長(zhǎng)度方向上的目標(biāo)缺陷范圍內(nèi)保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時(shí)，可以非常快的速度手動(dòng)移動(dòng)ECA探頭進(jìn)行檢測(cè)，并借助彩色圖像和歸檔功能，完成性能強(qiáng)大、效率很高的檢測(cè)。
透過薄涂層進(jìn)行檢測(cè)渦流檢測(cè)（ECT）技術(shù)基于以下磁耦合工作原理：接近被測(cè)工件（鐵磁性或非鐵磁性的導(dǎo)電材料）的探頭傳感器（線圈）在被測(cè)工件中產(chǎn)生渦流，并在儀器的阻抗圖中顯示信號(hào)。使用渦流技術(shù)時(shí)，只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內(nèi)，一般為0.5毫米到2.0毫米，就可以透過薄涂層（如：漆層）探測(cè)到材料中的缺陷。渦流陣列（ECA）和渦流檢測(cè)（ECT）技術(shù)基于相同的基本原理（和物理學(xué)理論），因此也可以透過漆層進(jìn)行檢測(cè)，而且ECA技術(shù)還具有以下優(yōu)勢(shì)：覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高，及可進(jìn)行彩色成像。
渦流檢測(cè)使用的探頭為銅線繞制而成的線圈。線圈形狀可以變化，以更好地適用于特定的應(yīng)用。
1.交流電流在所選的頻率下通過線圈，在線圈周圍產(chǎn)生磁場(chǎng)。
2.當(dāng)線圈靠近導(dǎo)電材料時(shí)，材料中產(chǎn)生感應(yīng)渦流。
3.如果導(dǎo)電材料中的缺陷干擾了渦流的流通，則探頭的磁耦合效果會(huì)發(fā)生改變。通過測(cè)量線圈的阻抗變化，可以解讀缺陷信號(hào)。
在同一次掃查中可以使用8種頻率
粘接檢測(cè)的改進(jìn)特性
C掃描成像。
可同時(shí)最多驅(qū)動(dòng)8種不同的頻率。
計(jì)算缺陷大小的性能。
提高了檢出率（POD）。
相位/波幅的顯示模式
重要注意事項(xiàng)
探測(cè)方式與BondMaster 1000e+儀器相同，因?yàn)閮煞N儀器使用相同的探頭。
設(shè)計(jì)支持一發(fā)一收探頭。
需要雙軸編碼掃查器生成C掃描。
高級(jí)復(fù)合材料檢測(cè)
奧林巴斯非常自豪地推出新型粘接檢測(cè)OmniScan解決方案：這無疑是復(fù)合材料檢測(cè)行業(yè)中的一大進(jìn)步。如今，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經(jīng)成為現(xiàn)實(shí)。這種OmniScan解決方案不僅非常適用于蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料的脫粘檢測(cè)，而且還可以精確地探測(cè)到分層缺陷。這種解決方案主要為航空航天業(yè)的在役檢測(cè)而設(shè)計(jì)，但是也同樣適用于包括汽車和船舶工業(yè)在內(nèi)的制造業(yè)中的檢測(cè)，如：針對(duì)復(fù)合材料船體的檢測(cè)。
已經(jīng)擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購(gòu)標(biāo)準(zhǔn)的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜，就具備了解決方案所需的全套設(shè)備。
我們特別為復(fù)合材料檢測(cè)開發(fā)定制了MXB軟件；其新添的功能，如：向?qū)Ш鸵?guī)范化，有助于保持操作的簡(jiǎn)單性。
編碼系統(tǒng)：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測(cè)工件。奧林巴斯提供兩個(gè)選項(xiàng)：一個(gè)是適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器；另一個(gè)是專門為掃查曲面工件（如：飛機(jī)的機(jī)身）而設(shè)計(jì)的WING掃查器，這款掃查器因具有Venturi真空吸盤系統(tǒng)，甚至可以在倒置狀態(tài)下進(jìn)行操作。為了增強(qiáng)其通用性，裝有步進(jìn)點(diǎn)擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個(gè)系統(tǒng)兼容。
創(chuàng)新型C掃描視圖
奧林巴斯再次創(chuàng)新，推出了全新的屏幕數(shù)據(jù)顯示方式。針對(duì)每個(gè)C掃描，操作人員都有兩個(gè)查看選項(xiàng)可以選擇：波幅C掃描基于信號(hào)波幅顯示顏色的變化，而不會(huì)考慮相位情況，這種C掃描可以清晰、有效地探測(cè)到脫粘缺陷；相位C掃描，使用0°到360°的彩色調(diào)色板顯示相位角的變化，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補(bǔ)）區(qū)域或分層缺陷。
奧林巴斯 OLYMPUS 渦流陣列探傷儀渦流探頭OmniScan MX ECA/ECT
| OmniScan MX | 總體尺寸 （寬 × 高 × 厚） | 321 mm × 209 mm × 125 mm |
| 重量 | 4.6公斤，含模塊和一個(gè)電池 | |
| 顯示 | 8.4英寸TFT液晶顯示，800像素 × 600像素，1千6百萬種顏色 | |
| 電源供應(yīng) | 智能鋰離子電池（最多兩節(jié)），直流電輸入電壓為15 V到18 V（最小50 W） | |
| 電池供電時(shí)間 | 使用兩節(jié)電池，至少可使儀器工作6小時(shí)；正常操作條件下，每節(jié)電池至少可使儀器工作3小時(shí)。 | |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | CompactFlash（閃存）卡、大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)的USB存儲(chǔ)裝置，或者通過快速以太網(wǎng)、內(nèi)置32-MB DiskOnChip（芯片磁盤）。 | |
| I/O端口 | 3個(gè)USB端口、1個(gè)視頻輸出端口（SVGA）、以太網(wǎng)端口（10/100 Mbps）、雙軸編碼器接口、4個(gè)數(shù)字輸入端口（TTL）。 | |
| 工作溫度范圍 | 0 °C ～ 40 °C； 使用32:128 PA模塊時(shí)，0 °C ～ 35 oC | |
| 存儲(chǔ)溫度范圍 | –20 °C ～ 70 °C，相對(duì)濕度為0 % ～ 95 %，無冷凝。無進(jìn)氣孔；防濺設(shè)計(jì)。 | |
| MX模塊兼容性 | OMNI-M-ECT4 | 支持常規(guī)渦流和粘接檢測(cè)C掃描（不含適配器） |
| OMNI-M-ECA4-32 | 支持渦流陣列、常規(guī)渦流和粘接檢測(cè)C掃描（不含適配器） | |
| ECT/BT和ECA模塊 | 接口 | BNC絕對(duì)探頭（ECT）接口、4通道通用Fischer 19針（ECT和BT）接口，以及用于連接ECA探頭的OmniScan接口 |
| 通道數(shù)量 | 1到4個(gè)（ECT）；32個(gè)（ECA），通過外置多路轉(zhuǎn)換器可以擴(kuò)展到64個(gè)；1個(gè)（BT），帶適配器 | |
| 探頭兼容性 | 絕對(duì)、差分、橋式、反射式（驅(qū)動(dòng)器-拾波器）與ECT和ECA探頭兼容。 通過使用適配器，可支持所選的BondMaster一發(fā)一收探頭（還需使用掃查器） | |
| 探頭識(shí)別 | 自動(dòng)探頭識(shí)別，并為ECA和BT探頭進(jìn)行設(shè)置 | |
| 頻率 | 大多數(shù)ECA和ECT設(shè)置有2個(gè)一般頻率，對(duì)于自定義ECT應(yīng)用或粘接檢測(cè)C掃描，可多達(dá)8個(gè)頻率。 | |
| 操作頻率 | 20 Hz ～ 6 MHz | |
| 最大電壓 | 12 Vp-p，10 Ω | |
| 增益 | ECT和ECA：34 dB ～ 74 dB。BT：28 dB ～ 68 dB。 附加可調(diào)的軟件增益范圍：0 dB ～ 30 dB。 | |
| 相位旋轉(zhuǎn) | 0°～ 360°，步距為0.1°。 | |
| 采集（測(cè)量）速率 | 1 Hz ～ 15 kHz，根據(jù)配置可變。 | |
| A/D分辨率 | 16位 | |
| 濾波 | FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調(diào)）、中值濾波器（在2點(diǎn) ～ 200點(diǎn)之間變化）、平均濾波器（在2點(diǎn)～200點(diǎn)之間變化） | |
| 通道處理 | 真實(shí)的自動(dòng)混合，靈敏度歸一化，以及編碼器校準(zhǔn) | |
| 編碼器 | 時(shí)基，單行掃查或光柵掃查（雙軸） | |
| 報(bào)警 | 3個(gè)報(bào)警，分別配置為餅形、框形、圓環(huán)/圓圈形。報(bào)警輸出有視覺、TTL和聲音類型。 | |
| 模擬輸出 | 有，僅一個(gè)通道。 |
渦流探頭
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