目錄:杭州科銘光電科技有限公司>>小麥面粉大米檢測化驗(yàn)儀器>>谷物分析儀>> KM-YMBX玉米表型檢測儀
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,農(nóng)業(yè),綜合 |
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玉米表型檢測儀可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。儀器可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究!對遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長研究等方面起到重要作用。
玉米表型檢測儀適用范圍:
1、玉米株型適用于室內(nèi)盆栽的玉米
2、玉米株高適用于大田玉米株高測量
3、千粒重適用于室內(nèi)考種測量
測量誤差:
1、株高測量范圍: 300-3800mm 精度: 0.5%
2、玉米株型:測量范圍:0-1.8m,株高準(zhǔn)確度: 1%,角度參數(shù)精度: 3%,其他參數(shù)準(zhǔn)確度:5%
3、 數(shù)粒精度誤差: 2%
硬件配置:
1、手機(jī)支架:用于手機(jī)固定拍攝
2、背景布:黑色磨砂布面
3、背光板:超薄發(fā)光板
4、數(shù)據(jù)采集器: 超大彩色屏手機(jī)
5、玉米株高測量桿: 移動(dòng)測量式標(biāo)定桿
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)