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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,能源,電子,電氣,綜合 |
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近年來,對近紅外區(qū)域測量的需求不斷增加,特別是在顯示器和照明市場。
此外,沒有任何測量儀器可以輕松準確地測量這一點。
北崎供應TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR
北崎供應TOPCON拓普康近紅外光譜儀SR-NIR
在這種情況下,我們在SR系列分光輻射度計的技術基礎上開發(fā)了“近紅外分光輻射度計SR-NIR"。
通過將該產品與SR系列光譜輻射計結合使用,現(xiàn)在可以測量380nm至1030nm的光譜輻射亮度。
e 能夠測量 FPD 微弱發(fā)射的近紅外區(qū)域
e 高精度測量近紅外區(qū)域(600 至 1030 nm)的光譜分布 e
與我們的分光輻射度計 SR 系列結合使用時,可從可見光到近紅外區(qū)域測量外部光譜分布(380-1030nm)
觀測各種FPD的近紅外輸出
e 觀測Ne和Ar的發(fā)射線輸出
e 評估光學薄膜等的近紅外傳輸特性 e
其它光源的近紅外光譜測量
光電探測器 | 電子冷卻線性陣列傳感器 |
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波長色散元件 | 衍射光柵 |
光學系統(tǒng) | 物鏡:f=82mm F2.5,目鏡:觀察視場5° |
測量角度 | 2°/1°/0.2°/0.1° 電動切換型 |
最小測量直徑(mmφ) | 2°: 10.0, 1°: 4.99, 0.2°: 1.00, 0.1°: 0.50 |
測量距離 | 350mm~∞(距物鏡硬件的距離) |
測量波長范圍 | 600~1030nm |
光譜波長寬度 | 6-8nm(半寬) |
波長分辨率 | 1納米 |
測量模式 | 自動/手動(存儲時間/頻率)、外部垂直同步信號輸入 |
測量細節(jié) | 光譜輻射亮度:W?sr -1?m -2?nm -1 |
測量范圍(*1) | 2°:0.5~3,000 cd/m 2 1°:1~9,000 cd/m 2 0.2°:20~70,000 cd/m 2 0.1°:100~300,000 cd/m 2 |
重復性(*2) | ±2%以內 |
偏振特性 | 光譜輻射率5%以下 |
校準標準 | 我們的校準標準 *標準 A 光,23℃±3℃,65% RH 以下 |
測量時間(*3) | 約 1 至 31 秒 |
界面 | RS-232C、USB 2.0 |
電源 | 專用交流適配器AC100~240V (50/60Hz) |
功耗 | 約36W |
使用條款 | 溫度:5~35℃,濕度:80%RH以下,無凝結 |
外形尺寸(寬×深×高) | 150×406×239毫米 |
大量的 | 約5.5公斤 |