玉崎科學(xué)日本SANKO山高電磁模擬薄膜測厚儀

玉崎科學(xué)日本SANKO山高電磁模擬薄膜測厚儀

特征

傳統(tǒng)模擬儀表

測量厚度可以直觀讀取。作為現(xiàn)場使用的高性能膜厚計，被應(yīng)用于政府機關(guān)、檢測場所、企業(yè)等眾多場所。

緊湊的機身

變得更加緊湊。 （90% 體積比）對于網(wǎng)站來說尺寸很大。

范圍廣，從0到5mm。

適用于從薄膜涂層到內(nèi)襯的廣泛應(yīng)用。

特殊磁極探頭

CVD磁極，實現(xiàn)高耐磨性。

標(biāo)準(zhǔn)配備的刻度盤蓋

可防止調(diào)節(jié)點因意外接觸而移動。

*不能防止儀表指針因溫差或使用環(huán)境而漂移。

目的

這是一種電磁膜厚計，可非破壞性地測量鐵基體*上的涂層、襯里等絕緣膜、鍍層等非磁性金屬膜的厚度。 我們采用兩點調(diào)整法，符合標(biāo)準(zhǔn)、內(nèi)部規(guī)則、國內(nèi)各公共機構(gòu)、組織、政府機關(guān)、研究機構(gòu)和各種企業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)以及ASTM和ISO等海外標(biāo)準(zhǔn)。 *包括鋼和鐵素體不銹鋼（SUS430等）

●涂裝（橋梁、船舶、鋼管等鋼結(jié)構(gòu)、汽車、家電[冰箱、洗衣機]、鋼制家具、固定裝置等）

●內(nèi)襯（樹脂、焦油環(huán)氧樹脂、橡膠、搪瓷等）

●電鍍*（非磁性電鍍，如鉻、鋅、銅、錫等）*不包括電解鎳電鍍

●金屬鍍膜、磷化膜、氧化膜、噴鍍膜等。

●樹脂膜/非磁性金屬箔的厚度測量（以鐵為基材進行測量）

規(guī)格

測量方法

電磁感應(yīng)式

測量對象

鐵基材上的絕緣涂層和非磁性金屬涂層　

（*包括鋼和鐵素體不銹鋼，如SUS430）

測量范圍

0~500μm?0.2~5mm

測量精度

±2μm（對于均勻表面）或 ±5% 的指示值，以較大者為準(zhǔn)

電源

AAA 堿性電池 (1.5V) x 6

工作溫度

0～40℃（無凝結(jié)）

尺寸

110(W)×50(H)×137(D)mm *不包括突出部分

重量

約470克（不含電池）

配件

主機收納箱、標(biāo)準(zhǔn)厚板、標(biāo)準(zhǔn)厚板箱、

干電池、使用說明書、用戶登記表、保修卡

探測

1點恒壓接觸式

∅17×85mm

磁極：超耐磨CVD處理磁極