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當(dāng)前位置:深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>光學(xué)器件>>測量儀>> SIT-200日本alnair-labs硅片厚度測量儀光學(xué)檢查儀
產(chǎn)品型號SIT-200
品 牌Alnair Labs
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-10-08 09:34:02瀏覽次數(shù):220次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 化工儀器網(wǎng)日本進(jìn)口AMADA壓力監(jiān)測儀測力計(jì)測量儀器
日本Pearl光學(xué)鏡頭焦距、曲率半徑測量設(shè)備
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合 |
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日本alnair-labs硅片厚度測量儀光學(xué)檢查儀 Alnair Labs SIT-200 特點(diǎn)介紹
1、機(jī)械損耗低、機(jī)械滯后低
2.可制造長行程產(chǎn)品。
3、維護(hù)方便
4、結(jié)構(gòu)簡單,不存在常規(guī)產(chǎn)品因卡膠而發(fā)生故障的現(xiàn)象。
氣缸滑動部位通過小泄漏氣膜進(jìn)行潤滑,滑動阻力低,磨損極小。
5. 微壓操作
6、壽命長
7、操作油缸部分采用CFRP(增強(qiáng)碳纖維管)制成,重量輕。
8. 抗不平衡負(fù)載能力
9. 氣缸桿可承受高負(fù)載(直線導(dǎo)軌)
10. 活塞部分使用滾珠襯套與線性導(dǎo)軌集成在一起
日本alnair-labs硅片厚度測量儀光學(xué)檢查儀 Alnair Labs SIT-200 規(guī)格參數(shù)
測定対象物
シリコン基板
厚み測定範(fàn)囲
10~500 (n=3.5のとき)
μm
測定光源
波長可變光源(1515~1585)
nm
光出力バフ一
0.6、クラス1
mW
ガイド用光源
赤色LD、 クラス1M
計(jì)測時(shí)間
最小20
ms
測定再現(xiàn)性
0.1以下 (3σにおいて)
μm
モ二タ出力
干涉出力信號
PO インタ一フエ一ス
Ethernet
電源電莊
AC 100-240(50/60 Hz)V
外観寸法(WxHxD)
364x 147x391mm
重量
9kg
工作溫度和濕度 20℃~25℃ 50%RH以下
可制造型號 懸臂式單作用,帶雙滾珠襯套
最小驅(qū)動壓力 200pa(低摩擦規(guī)格) φ40用
漏氣量 90L/min以下(0.4Mpa時(shí)) φ40×200ST用(低摩擦規(guī)格)
滯后現(xiàn)象 平均0.6N φ40×200ST
位置負(fù)載能力 φ40×200ST 3430N(最大動載荷)
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