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更新時(shí)間:2024-06-23 21:00:06
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TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿
TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用, 有效地使原子 探針和透射電鏡檢測結(jié)合在一起, 使樣品的觀察和分析更加方便。 TEM-APT Holder 電鏡連用三維 原子探針樣品桿用來夾持透射電鏡樣品放到透射電鏡下進(jìn)行觀察, 可以 360°旋轉(zhuǎn)樣品, 透射電鏡 配套的樣品桿往往功能單一, 這款樣品桿可以滿足客戶的多種的需要, 適合大專院校及科研院所 中與透射電鏡配套使用。進(jìn)口樣品桿往往價(jià)格不菲, 本公司的樣品桿不僅功能齊全且結(jié)實(shí)耐用, 價(jià)格也遠(yuǎn)低于進(jìn)口設(shè)備的價(jià)格。
產(chǎn)品型號(hào) | TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿 |
主要特點(diǎn) | 1 、TEM-APT 樣品桿:三維原子探針(3DAP)和透射電鏡(TEM)是先 進(jìn)的原子尺度表征手段。 2、三維原子探針的結(jié)果不是“可視”的,需要通過數(shù)據(jù)重構(gòu)再現(xiàn)。透射電鏡能 提供“直接可視”的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,但是結(jié)果是二維投影的,并且很難獲得三維的 單個(gè)原子尺度的成分信息?;谒鼈兏髯缘膬?yōu)勢,我們開發(fā)了 3DAP-TEM 樣品 桿,可以將原子探針(APT)試樣直接加載到 TEM 樣品桿上。 |
產(chǎn)品結(jié)構(gòu) |
產(chǎn)品作用 | (1)在 TEM 中直接觀察 APT 試樣上是否有令人感興趣的區(qū)域,使樣品檢測工作效率增加; (2)通過大角度傾轉(zhuǎn)試樣,獲得不同角度試樣的形貌結(jié)構(gòu)特征,為 3DAP 數(shù)據(jù)重構(gòu)提供幫助 (3) TEM 觀察過后的試樣可以直接移到 APT 中繼續(xù)實(shí)驗(yàn)。將 APT 結(jié)果與 TEM 圖像相結(jié)合,有助于優(yōu)化重構(gòu)參數(shù),并使 3DAP 結(jié)果更具有可信度。 (4)在原子水平上獲得了樣品的組成和結(jié)構(gòu)。
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產(chǎn)品性能 | (1)接受錐形電化學(xué)拋光的樣品或聚焦離子束(FIB)制備的樣品柱。 (2)允許 360°的圖像采集和層析圖像的重建,不會(huì)因楔子缺失而造成信息損失。 (3)樣品可以很容易地從支架上取出,然后直接轉(zhuǎn)移到 APT 機(jī)上進(jìn)行進(jìn)一步表征。 (4)兼容所有幾何形狀的極片間隙。 |
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