BT-100松裝密度儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹:BT-100松裝密度儀是用于一般粉體的松裝密度測(cè)試儀BT-1700濾紙清潔度分析系統(tǒng) 參考價(jià):面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹:BT-1700濾紙清潔度分析系統(tǒng)(以下簡(jiǎn)稱BT-1700)是一款用于濾紙的殘留顆粒自動(dòng)化圖像分析系統(tǒng)BT-300系列振實(shí)密度儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹:振實(shí)密度是指一定量的粉體裝填在特定容器后,以一定的頻率和幅度進(jìn)行振動(dòng),當(dāng)粉末的體積不再減少時(shí)讀出粉體的體積,然后用粉末的重量除以該體積就得到振實(shí)密...BT-200標(biāo)準(zhǔn)漏斗法金屬粉末流動(dòng)性測(cè)定儀(霍爾流速計(jì)) 參考價(jià):面議
產(chǎn)品詳細(xì)介紹:BT-200標(biāo)準(zhǔn)漏斗法金屬粉末流動(dòng)性測(cè)定儀(霍爾流速計(jì))是用于測(cè)試金屬粉末流動(dòng)性的儀器PG150-PC激光平面干涉儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:PG150-PC激光平面干涉儀是一種使用方便的光學(xué)精密計(jì)量?jī)x器,主要用于平面類(lèi)光學(xué)元件檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶(包括玻璃、金屬、陶瓷等),配備高精度的成像系...SE-VE光譜橢偏儀03090803 參考價(jià):面議
SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-VE是一款、快速測(cè)量光譜橢偏儀,緊湊集成設(shè)計(jì),使用簡(jiǎn)便,可一鍵快速測(cè)量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息SE-i 光譜橢偏儀03090808 參考價(jià):面議
SE-i光譜橢偏儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀,針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍膜工藝研究的需要開(kāi)發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測(cè)中的定制化開(kāi)發(fā),快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄...全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)03090806 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)作為一種小型橢偏集成機(jī)臺(tái),通過(guò)整體高度模塊化,電、氣路集成技術(shù),實(shí)現(xiàn)不同橢偏測(cè)量模塊在線/離線式整體橢偏測(cè)量解決方案SE-VM光譜橢偏儀03090802 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-VM是一款高精度快速測(cè)量光譜橢偏儀SE-PV光伏橢偏儀03090809 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-PV光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域?qū)S眯凸庾V橢偏儀,針對(duì)光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)能電池表面減反膜測(cè)量定制開(kāi)發(fā),快速實(shí)現(xiàn)薄膜物性表征分析SE-Mapping光譜橢偏儀03090805 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測(cè)量光譜橢偏儀,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動(dòng)Mapping測(cè)量模塊,通過(guò)橢偏參數(shù)、...SE-L光譜橢偏儀03090804 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-L光譜橢偏儀是一款全自動(dòng)高精度光譜橢偏儀,集眾多科技技術(shù),采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動(dòng)測(cè)量模塊SE-Glass 光譜橢偏儀03090807 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:光譜橢偏儀SE-Glass是一款針對(duì)玻璃蓋板行業(yè)定制的專(zhuān)用型光譜橢偏儀,針對(duì)玻璃蓋板光學(xué)鍍膜行業(yè)通過(guò)集成微光斑+可視化調(diào)平系統(tǒng)儀消除透明基底背反測(cè)量定...PMS 橢偏在線監(jiān)測(cè)裝備03090810 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:橢偏在線監(jiān)測(cè)裝備針對(duì)LCD、OLED等新型平板顯示量光學(xué)薄膜質(zhì)量控制需要,專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)ME-L 穆勒矩陣橢偏儀03090801 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:ME-L是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù),包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制...TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀,利用光學(xué)干涉原理,通過(guò)分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜,快速準(zhǔn)確測(cè)量薄膜厚度、光學(xué)...SKCH-1(A)精密測(cè)厚儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SKCH-1(A)精密測(cè)厚儀是一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、價(jià)格低廉、高精度的測(cè)量裝置,主要用于各類(lèi)材料厚度的精密測(cè)量,也可用于其它物品的高度與厚度測(cè)量EQ-TM106膜厚監(jiān)測(cè)儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:EQ-TM106膜厚監(jiān)測(cè)儀是采用石英晶體振蕩原理,結(jié)合的頻率測(cè)量技術(shù),進(jìn)行膜厚的在線監(jiān)測(cè)ComBi-D3涂鍍層測(cè)厚儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:ComBi-D3涂鍍層測(cè)厚儀可以測(cè)試所有的非磁性涂層如人工合成(絕緣)材料,漆、瓷釉、銅、鉻、鋁等薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)TF200 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:TFMS-LD是一款反射光譜薄膜測(cè)厚儀,可快速精確地測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度,其測(cè)量膜厚范圍為15nm-50um,儀器所發(fā)出測(cè)試光的波長(zhǎng)范圍為400...SGC-10薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SGC-10薄膜測(cè)厚儀適用于介質(zhì),半導(dǎo)體,薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測(cè)量DSA-X光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:DSA-X光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x配置高分辨率的高速工業(yè)相機(jī)搭配LED冷光源,獲得高清圖像并通過(guò)全新優(yōu)化的軟件進(jìn)行計(jì)算擬合從而獲得準(zhǔn)確的測(cè)試數(shù)據(jù)TMVS-1、TMVS-1S數(shù)顯轉(zhuǎn)塔顯微維氏硬度計(jì) 參考價(jià):面議
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:TMVS-1、TMVS-1S數(shù)顯轉(zhuǎn)塔顯微維氏硬度計(jì)采用精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、CPU控制試驗(yàn)過(guò)程、高清晰光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、光電傳感技術(shù)(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)