美國DAKOTA CMXDL+多功能超聲波測厚儀帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置，以獲得更好的性價比。
標準版為灰度顯示屏，可選彩屏版。
產(chǎn)品特點：
美國DAKOTA CMXDL+多功能超聲波測厚儀測量方式（僅測量基體厚度、同時測量基體和涂層的厚度、僅測量涂層厚度）
顯示模式（數(shù)字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅cmx>）
增益可調(diào)節(jié)：超低、低、中、高、超高
增益值可到110dB
自動增益控制（AGC）
時間增益校正（TCG）
探頭自動識別，自動調(diào)零和溫度補償
最大值、最小值顯示
可存儲64個用戶參數(shù)設(shè)置
高速掃查（50次/秒）
高達140HZ的脈沖重復(fù)頻率
B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀
A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+）
差值測量模式
高速掃查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限聲光報警功能
數(shù)據(jù)存貯：可存儲21000個測量厚度值或者16000個測量厚度值和B掃描圖形及參數(shù)
可通過軟件與計算機進行數(shù)據(jù)交換，方便用戶打印檢測報告
美國DAKOTA CMXDL+多功能超聲波測厚儀技術(shù)參數(shù)：
測量 |
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼) |
顯示 |
顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素?？梢晠^(qū)62x45.7mm，EL背光；可選1/4英寸彩色顯示屏，320x240象素 |
超聲波參數(shù) |
測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT |
探頭 |
頻率范圍：1~20MHz |
存儲 |
容量：內(nèi)置4GB SD卡 |
功能 |
設(shè)置：64個用戶定義設(shè)置，用戶也可編輯出廠設(shè)置 |
其他 |
鍵盤：12個觸摸鍵 |
美國DAKOTA CMXDL+多功能超聲波測厚儀可選雙晶探頭：
型號 | 頻率 | 晶片直徑 | 防磨面直徑 | 測量范圍 | 說明 |
T-102-2900 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 標準CT探頭(可測涂層厚度) |
T-101-2900 | 5.0MHz | 4.76mm | 6.35mm | 1.0～50mm | 小管徑CT探頭 |
T-102-3300 | 7.5MHz | 6.35mm | 9.53mm | 0.63～152mm | 超薄探頭 |
T-104-2900 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚CT探頭 |
T-042-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 標準高溫探頭，最高340℃ |
T-044-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚高溫探頭，最高340℃ |
T-212-2001 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 超高溫探頭，最高480℃ |
T-214-2001 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚超高溫探頭，最高480℃ |
注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑
美國DAKOTA CMXDL+多功能超聲波測厚儀可選單晶探頭：
探頭型號 | 頻率 | 描述 | 說明 |
T-402-5507 | 15MHz | 晶片?6.35mm | 標準延遲塊探頭 |
T-402-6507 | 20MHz | 晶片?6.35mm | 延遲塊探頭 |
T-4903-2875 | 5MHz | 晶片?3.18mm，防磨面?6.35mm | 接觸式探頭 |
T-4903-4875 | 10MHz | 晶片?3.18mm，防磨面?6.35mm | 接觸式探頭 |
T-4023-2855 | 5MHz | 晶片?6.35mm，防磨面?9.53mm | 接觸式探頭 |
T-4023-4855 | 10MHz | 晶片?6.35mm，防磨面?9.53mm | 接觸式探頭 |
T-481-4507 | 10MHz | 延遲塊前端?1.59mm | 筆式探頭 |
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