電子高低溫交變濕熱試驗箱 大款型式

用途：材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。例如：填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化。在低溫時產品所使用零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。例如：材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結冰、材料收縮造成機械結構變化。

電子高低溫交變濕熱試驗箱 大款型式

產品特點：

溫度控制精度高：能夠精確控制試驗箱內的溫度，溫度波動度小，溫度均勻性好，確保試驗結果的準確性。

濕度控制精準：可以準確控制試驗箱內的濕度，濕度波動范圍小，能夠滿足不同濕度條件下的試驗需求。

交變功能可靠：具備良好的交變功能，能夠按照設定的程序準確地進行溫度和濕度的交變循環(huán)試驗，模擬復雜的環(huán)境變化。

箱體結構合理：箱體采用優(yōu)質材料制作，具有良好的保溫性能和密封性能，能夠有效減少能量損失和外界環(huán)境對試驗的影響。

操作簡便：配備先進的控制系統(tǒng)，操作界面友好，易于操作和設置試驗參數(shù)，同時能夠實時監(jiān)測試驗過程中的溫度、濕度等參數(shù)。

安全性能高：具有完善的安全保護措施，如過溫保護、過濕保護、漏電保護等，確保試驗過程的安全可靠。

滿足標準：

國內標準：

GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術條件》：規(guī)定了濕熱試驗箱的技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則等，是濕熱試驗箱設計、生產和檢驗的重要依據(jù)。

GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》：確保試驗箱在低溫環(huán)境下的性能和精度符合要求，包括低溫范圍、降溫速率、溫度均勻性等指標。

GB/T 11158-2008《高溫試驗箱技術條件》：對高溫試驗箱的技術指標、性能測試方法等進行了規(guī)范，保證試驗箱在高溫環(huán)境下的可靠性。

GB/T 10592-2008《高低溫試驗箱技術條件》：綜合了高低溫試驗的要求，規(guī)定了高低溫交變濕熱試驗箱在溫度變化、溫度控制精度、溫度均勻性等方面的技術標準。

GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫》：適用于電工電子產品的低溫試驗，為試驗箱在低溫環(huán)境下對電工電子產品的測試提供了方法和標準。

GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫》：用于電工電子產品的高溫試驗，規(guī)定了高溫試驗的條件、方法和要求。

GB/T 2423.3-2008《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Ca：恒定濕熱試驗方法》：明確了恒定濕熱試驗的操作方法和標準，是試驗箱進行恒定濕熱試驗的依據(jù)。

GB/T 2423.4-2008《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Db：交變濕熱試驗方法》：規(guī)定了交變濕熱試驗的程序、條件和要求，對于評估產品在交變濕熱環(huán)境下的性能具有重要意義。

GB/T 2423.34-2012《電工電子產品溫度濕度組合循環(huán)試驗方法》：適用于電工電子產品在溫度和濕度組合循環(huán)條件下的試驗，對試驗箱的溫度濕度控制和循環(huán)功能提出了要求。

國際標準：

IEC 60068-2-1:2007《Environmental testing - Part 2-1: Tests - Test A: Cold》：國際電工委員會制定的低溫試驗標準，與 GB/T 2423.1-2008 相對應，是國際上通用的電工電子產品低溫試驗方法。

IEC 60068-2-2:2007《Environmental testing - Part 2-2: Tests - Test B: Dry heat》：與 GB/T 2423.2-2008 對應，是國際上的高溫試驗標準。

IEC 60068-2-78:2012《Environmental testing - Part 2-78: Tests - Test Cab: Damp heat, steady state》：關于恒定濕熱試驗的國際標準，與 GB/T 2423.3-2008 相關。

IEC 60068-2-30:2005《Environmental testing - Part 2-30: Tests - Test Db: Damp heat, cyclic (12 + 12 hour cycle)》：規(guī)定了交變濕熱試驗的方法和要求，與 GB/T 2423.4-2008 對應。