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產(chǎn)品型號SKPoia
品 牌SIGMAKOKI/西格瑪光機
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間:2024-08-11 17:05:19瀏覽次數(shù):351次
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SIGMAKOKI/西格瑪光機自動偏光解析系統(tǒng)
基本構成例
這里介紹幾種計測·解析的典型光學系統(tǒng)構成例。
我們可根據(jù)您的目的或使用要求更改結構和部件的型號,詳情請*詢。
在光源的后方設置偏光操作光學系統(tǒng),可輸出任意偏光狀態(tài)的光束。
可選擇直線偏光,圓偏光,橢圓偏光以及長短軸比例,轉(zhuǎn)動方向等。
可用計算機動態(tài)控制。便于評估具有偏光依存性的樣品,或在光路后部進行偏光補償。
計測和解析入射光束偏光狀態(tài)的裝置。
可求入射偏光的斯托克斯參數(shù)S0?S3。
任意偏光光源,樣品保持機構,偏光測定裝置的組合,可完成樣品的特性的測定。
可構建透過型或反射型。
反射型即可測偏光特性,也可用作橢圓偏振光法(Elipsometry)。
可觀測紋理,加工應變等,樣品內(nèi)部的應變的裝置。
可把內(nèi)部應變的分布和變化錄像。
承接生產(chǎn)設備或測定裝置,專用裝置的開發(fā)制造主要部件選用樣本上的標準產(chǎn)品,既經(jīng)濟,又容易保證質(zhì)量和性能。
只需添置一些配合專用設備的零部件就可完成開發(fā),效率高,容易實現(xiàn)個性化研發(fā)。
采用立式透過光學系統(tǒng)的偏光光學件特性評價系統(tǒng)
只需把被測樣品放置到臺架上就可完成測定。
可測定分光相位差,偏光分光特性,透過偏光比等。
SIGMAKOKI/西格瑪光機自動偏光解析系統(tǒng)
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