TET東京電子株式會社 ESD微型器件兼容性測試機臺 EMD-625E：

本產(chǎn)品對于目視困難的微細間距DUT和微小尺寸DUT等半導體器件可進行準確的探測。
另外，可不用探針進行晶圓等級的ESD試驗：
1.適合各種形狀的樣品。
2.理想的微型器件ESD測試。
3.可通過選件實現(xiàn)HBM，MM測試。
4.HBM測試最高8KV。

ESD 模擬器

·MR/GMR頭

·小零件、芯片

·LCD 板

·TR、IC 二極管等

·LCD 板·小模塊

·PC 板功率，信號 Pins

·lC 卡、Memory 卡

通用指標

·測試 pin: 單 pin

·滿足標準: JEDEC,AEC,EOS

·DC 測試功能: 最大 30V/ 1A，(最小10mV/10nA )*

·測試電壓: HBM 125V~8KV : MM 10V~2KV·ESD 脈沖數(shù): 1~10 或連續(xù)

·DUT 固定部件: IC 插孔或僅被測件

·HBM 應(yīng)用

·HBM 應(yīng)用和破壞判斷功能

·MM 應(yīng)用

·MM 測試和破壞判斷功能

詳情請聯(lián)系