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  賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160ERSeries簡介：

   1.X-RAYINSPECT*TEM：

   搭載Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應(yīng)用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。此外，通過特別的減震機構(gòu)，可穩(wěn)定且快速的分析不良產(chǎn)品?？煞€(wěn)定的實現(xiàn)2.5DTilt檢測，也可以根據(jù)用戶及各種Application選擇不同Option。

   2.X-raySimple&Easy2.5D：

   1）Max可實現(xiàn)900x900mm的Tablesize，可檢測大型PCB和LED。

   2）通過采用雙臂支撐的Z軸結(jié)構(gòu)方式，可輕松解決震動引起的圖像殘影問題。

   3）Detector傾斜角度最大可達70°,可通過Rotation軸輕松獲取2.5D圖像。

   4）通過DetectorR軸結(jié)構(gòu)的改善增加了檢測區(qū)域及機構(gòu)的穩(wěn)定性。

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