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[供應(yīng)]半導(dǎo)體參數(shù)測試儀4200A-SCS
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  • 半導(dǎo)體參數(shù)測試儀4200A-SCS
貨物所在地:
北京北京市
更新時間:
2024-08-28 21:00:41
有效期:
2024年8月28日 -- 2025年2月28日
已獲點(diǎn)擊:
226
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(聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

產(chǎn)品簡介

使用 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)測試儀加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開發(fā),完成制程控制、可靠性分析和故障分析。提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體參數(shù)測試儀4200A-SGS特點(diǎn)

  • 用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級測量硬件

  • 立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應(yīng)用程序測試開始測試

  • 自動實(shí)時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)


準(zhǔn)確的 C-V 表征

使用吉時利的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到 CVU 架構(gòu)中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進(jìn)行低噪聲電容測量。

特點(diǎn)

  • 能夠驅(qū)動1 V AC 電源電壓的 CV 表

  • 1 kHz 頻率,分辨率從1 kHz 到 10 MHz

  • 測量電容、電導(dǎo)和導(dǎo)納

  • 使用 4200A-CVIV 多路開關(guān)可測量四個通道

  • 4200A_SCS-Front_Femtofarad.jpg

測量、 切換、 重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設(shè)置,并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。

特點(diǎn)

  • 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端

  • 用戶可配置低電流功能

  • 個性化輸出通道名稱

  • 查看實(shí)時測試狀態(tài)

穩(wěn)定的低電流測量,適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現(xiàn)場可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準(zhǔn)確的低電流測量,而停機(jī)時間很少甚至沒有。

特點(diǎn)

  • 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

  • 進(jìn)行 飛安測量

  • 多達(dá) 9 個 SMU 通道

  • 針對長電纜或大卡盤進(jìn)行了優(yōu)化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)

  • “點(diǎn)擊"測試定序

  • “手動"探測器模式測試探測器功能

  • 假探測器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試


生物傳感器檢定

生物傳感器或 bioFET 將對分析物的生物響應(yīng)轉(zhuǎn)換為電信號。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個用于測試 bioFET 的項(xiàng)目。以此為起點(diǎn)檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性,并從這里展開工作。


飛法電容測量

使用 4215-CVU 模塊測量亞毫微微法拉電容。通過驅(qū)動 1 V AC,在測量 1 fF 電容器時,4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測量電容和提取重要參數(shù)的數(shù)十種應(yīng)用程序之一。

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半導(dǎo)體和 NVM 可靠性

通過全面脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測試,從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM,不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。

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提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實(shí)現(xiàn)應(yīng)用,同時可與 4210-CVU 結(jié)合使用,執(zhí)行更高頻率測量。

特點(diǎn)

  • .01 ~ 10 Hz 頻率范圍,1 pF ~ 10 nF 靈敏度

  • 3? 位典型分辨率,典型值 10 fF


使用長電纜或電容式夾具時進(jìn)行測試

當(dāng)測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時,請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關(guān)矩陣或任何其他大型或復(fù)雜的測試儀?,F(xiàn)場可安裝版本使您無需將設(shè)備返回服務(wù)中心即可增加容量。

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材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS,可通過四點(diǎn)同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。 內(nèi)含測試可自動重復(fù)執(zhí)行范德堡計算,節(jié)省您寶貴的研究時間。 10aA 的上限電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準(zhǔn)確和精準(zhǔn)的結(jié)果。

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MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器,用于通過組件或晶圓測試執(zhí)行全面的 MOS 設(shè)備檢定。 內(nèi)含測試和項(xiàng)目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動離子濃度等問題。 只需觸摸一個儀器盒中的按鈕,即可運(yùn)行所有這些測試。

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