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熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)RS-3專門針對(duì)薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測(cè)量?jī)x器
詳細(xì)介紹
薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)RS-3專門針對(duì)薄膜材料的變溫seebeck系數(shù)和電阻率的測(cè)量?jī)x器，采用動(dòng)態(tài)法和四線法保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定，擁有寬廣的測(cè)試范圍和便捷的操作界面。
● 專門針對(duì)薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)量。
● 測(cè)試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。
● 采用動(dòng)態(tài)法測(cè) 量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測(cè)量在溫差測(cè)量上的系統(tǒng)誤差，測(cè)量更準(zhǔn)確。
● 真空度≤10Pa
● 塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍：S≥8uV/K；分辨率≤±7
● 采用四線法測(cè)量電阻率。
● 卡箍設(shè)計(jì)，方便進(jìn)行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡(jiǎn)單，智能化可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)模式。