布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5?。這項(xiàng)測(cè)量性能的提高，達(dá)到了過(guò)去四十年Dektak 體系技術(shù)創(chuàng)新的高峰，更加穩(wěn)固了其行業(yè)中的帶頭地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，在研究工作中的廣泛使用使得 DektakXT 的功能更強(qiáng)大，操作更簡(jiǎn)便易行，檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集也更加完善。

第十代 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

DektakXT 技術(shù)參數(shù)

臺(tái)階高度重復(fù)性 5?

— 單拱龍門式設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性

— 先進(jìn)的"智能化電子器件"實(shí)現(xiàn)了低噪聲的新 標(biāo)準(zhǔn)

— 新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了 40%

— 64 位的 Vision64 同步數(shù)據(jù)處理軟件，將數(shù) 據(jù)分析速度提高十倍。 功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)易

— 直觀的 Vision64 用戶界面操作流程簡(jiǎn)便易行

— 自對(duì)準(zhǔn)式探針設(shè)計(jì)使得更換探針的步驟簡(jiǎn)便 易行

— 性能優(yōu)異, 物超所值

— 獨(dú)到的傳感器設(shè)計(jì)使得在單一平臺(tái)上即可實(shí) 現(xiàn)超微力和正常力測(cè)量。

建立在40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)之上薄膜測(cè)試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動(dòng)輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀，內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī)，及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測(cè)量及操作效率的探針輪廓儀

有超過(guò)一萬(wàn)臺(tái)設(shè)備，品牌Dektak以質(zhì)量、可靠性及高性價(jià)比著稱。當(dāng)需要臺(tái)階高度、表面粗糙度、可靠測(cè)量時(shí)，人們就會(huì)借助Dektak。引進(jìn)DektakXT，Bruker能讓您進(jìn)一步獲得可靠及表面測(cè)量

利用直接驅(qū)動(dòng)掃描平臺(tái)，Dektak XT減少了掃描間的時(shí)間，而沒(méi)有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時(shí)的）的掃描速度。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)有效的直觀用戶界面，簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置，自動(dòng)完成多掃描模式，讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔。