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掃描電鏡冷熱臺(tái)是一種安裝在掃描電鏡（SEM）上研究樣品原位變溫顯微結(jié)構(gòu)的附件（無需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)）。通過定制外接法蘭裝置，操作溫控軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上樣品的溫度控制。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~200℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）的變溫環(huán)境。

掃描電鏡冷熱臺(tái)需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）配套使用，配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集 ，提供的Labview Vis /C# SDK方便客戶進(jìn)行定制化編程。

SEM冷熱臺(tái)SCH200

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.電熱、液氮可實(shí)現(xiàn)快速升降溫

2.可增加試樣溫度監(jiān)測(cè)溫度傳感器

3. 溫控精度高±0.1℃，可編程階梯控溫

4.溫控范圍寬（-185~50℃ / -185~200℃）

5. 可以在較大的電子束流下獲得高質(zhì)量圖像

6.可適配SEM定制樣品架，安裝/拆卸過程簡(jiǎn)單

7. 制冷完成測(cè)試后可快速（60℃/min）升溫達(dá)到室溫，正常更換樣品，測(cè)試效率高。

SEM原位拉伸冷熱臺(tái)是一款在掃描電鏡下研究樣品在變溫條件下進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的產(chǎn)品。原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸、壓縮，或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~200℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）溫度下材料的動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測(cè)試，可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。

SEM原位拉伸冷熱臺(tái)需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）以及原位拉伸控制器配套使用，配套的上位機(jī)軟件方便進(jìn)行溫度、力學(xué)參數(shù)設(shè)置及數(shù)據(jù)采集。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1. 溫度范圍：-190~200℃（選型） /RT~1500℃（選型）

2.適用領(lǐng)域：用于SEM下測(cè)試

3.行程：10mm（選型）

4.力范圍：0~5000N（選型）