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無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司
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AES-4535-微處理器芯片測試裝置的日常維護(hù)知識
  • AES-4535-微處理器芯片測試裝置的日常維護(hù)知識

貨物所在地:江蘇無錫市

地: 江蘇省無錫市新吳區(qū)機(jī)光電工業(yè)園鴻運(yùn)路203號

更新時(shí)間:2024-10-17 21:00:08

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制冷加熱控溫系統(tǒng)
TCU
多臺反應(yīng)釜制冷加熱控溫系統(tǒng)
化學(xué)合成工藝工程控制系統(tǒng)
二級循環(huán)單元單流體控溫系統(tǒng)
制冷加熱循環(huán)器
加熱循環(huán)器
油浴加熱
元器件高低溫測試機(jī)
低溫制冷循環(huán)器
冷水機(jī)
冷卻水循環(huán)器
低溫冷凍機(jī)
工業(yè)冷凍箱
超低溫冷凍箱
低溫試驗(yàn)箱
深冷冷凍機(jī)
反應(yīng)釜制冷設(shè)備
超低溫處理箱
乙二醇制冷機(jī)組
低溫處理冰柜
vocs
制冷加熱恒溫槽
制冷加熱循環(huán)風(fēng)控制系統(tǒng)
循環(huán)風(fēng)冷凍機(jī)
其他
pid溫度控制程序
新能源汽車部件測試裝置
無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設(shè)備。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。微處理器芯片測試裝置的日常維護(hù)知識

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機(jī)

給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。

是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設(shè)備。

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

 

 

 型號AES-4535
 AES-4535W
AES-6035
 AES-6035W
AES-8035
 AES-8035W
AES-A1035WAES-A1235W
溫度范圍-45℃~225℃-60℃~225℃-80℃~225℃-100℃~225℃-120℃~225℃
加熱功率3.5kW3.5kW3.5kW4.5kW4.5kW
制冷量AT -45℃2.5kW    
AT -60℃ 2kW   
AT -80℃  1.5kW  
AT -100℃   1.2kW 
AT -120℃    1.2kW
溫控精度±1℃±1℃±1℃±1℃±1℃
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間-25℃ to 150℃ 約10S
150℃to  -25℃
約20s
-45℃ to 150℃ 約10S
150℃to  -45℃
約20s
-55℃ to 150℃ 約10S
150℃to  -55℃
約15s
-70℃ to 150℃ 約10S
150℃to  -70℃
約20s
-80℃ to 150℃ 約11S
150℃to  -80℃
約20s
空氣要求空氣濾清器<5um
空氣含油量:<0.1ppm
空氣溫濕度:5℃~32℃  0~50%RH
空氣處理能力7m³/h ~ 25m³/h  壓力5bar~7.6bar
系統(tǒng)壓力顯示制冷系統(tǒng)壓力采用指針式壓力表實(shí)現(xiàn)(高壓、低壓)
循環(huán)系統(tǒng)壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上
控制器西門子PLC,模糊PID控制算法
溫度控制控制出風(fēng)口溫度
可編程可編制10條程序,每條程序可編制10段步驟
通信協(xié)議以太網(wǎng)接口TCP/IP協(xié)議
設(shè)備內(nèi)部溫度反饋設(shè)備出口溫度、制冷系統(tǒng)冷凝溫度、環(huán)境溫度、壓縮機(jī)吸氣溫度、冷卻水溫度(水冷設(shè)備有)
溫度反饋T型溫度傳感器
壓縮機(jī)法國泰康法國泰康法國泰康意大利都凌意大利都凌
蒸發(fā)器套管式換熱器
加熱器法蘭式桶狀加熱器
制冷附件丹佛斯/艾默生配件(干燥過濾器、油分離器、高低壓保護(hù)器、膨脹閥、電磁閥)
操作面板無錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏,溫度曲線顯示EXCEL 數(shù)據(jù)導(dǎo)出
安全防護(hù)具有自我診斷功能;相序斷相保護(hù)器、冷凍機(jī)過載保護(hù);高壓壓力開關(guān),過載繼電器、熱保護(hù)裝置等多種安全保障功能。
制冷劑冠亞混合制冷劑
外接保溫軟管方便外送保溫軟管1.8m DN32快接卡箍
外型尺寸(風(fēng))cm45*85*13055*95*17070*100*17580*120*185100*150*185
外型尺寸(水)cm45*85*13045*85*13055*95*17070*100*17580*120*185
風(fēng)冷型采用銅管鋁翅片冷凝方式,上出風(fēng)型式,冷凝風(fēng)機(jī)采用德國EBM軸流風(fēng)機(jī)
水冷型 W帶W型號為水冷型
水冷冷凝器套管式換熱器(帕麗斯/沈氏 )
冷卻水量 at 25℃0.6m³/h1.5m³/h2.6m³/h3.6m³/h7m³/h
電源 380V 50HZ4.5kW max6.8kW max9.2kW max12.5kW max16.5kW max
電源可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相
外殼材質(zhì)冷軋板噴塑 (標(biāo)準(zhǔn)顏色7035)
溫度擴(kuò)展高溫到 +300℃

 

 

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>IC芯片溫度沖擊測試機(jī)清潔保養(yǎng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong> 

微處理器芯片測試裝置的日常維護(hù)知識

微處理器芯片測試裝置的日常維護(hù)知識

  由于微處理器芯片測試裝置基本由電氣、制冷和機(jī)械多個(gè)系統(tǒng)組成,因此一旦設(shè)備出現(xiàn)問題,應(yīng)面面地對整個(gè)設(shè)備系統(tǒng)進(jìn)行檢查和綜合分析。

  微處理器芯片測試裝置一般建議您將其置于溫度為8℃~28℃,對不具備此條件的實(shí)驗(yàn)室,須配備適當(dāng)?shù)目照{(diào)器。

  微處理器芯片測試裝置堅(jiān)持專人專業(yè)管理維護(hù),有條件的單位應(yīng)不定期派專人到供方工廠培訓(xùn)學(xué)習(xí),以獲得較專業(yè)的維護(hù)、維修的經(jīng)驗(yàn)和能力。

  固定每3個(gè)月清洗一次冷凝器,對于壓縮機(jī)采用風(fēng)冷冷卻的,應(yīng)定期檢修冷凝風(fēng)機(jī)并對冷凝器進(jìn)行去污除塵以保證其良好的通風(fēng)換熱性能。對于壓縮機(jī)采用水冷冷卻的,除須保證其進(jìn)水壓力與進(jìn)水溫度外,還保證相應(yīng)流量,并定期對冷凝器內(nèi)部進(jìn)行清洗除垢以獲取其持續(xù)的換熱性能。

  定期清洗微處理器芯片測試裝置蒸發(fā)器:因試品的潔凈等各異,在強(qiáng)制風(fēng)循環(huán)作用下蒸發(fā)器上會凝聚很多塵埃等小顆粒物體,應(yīng)定期進(jìn)行清洗。

  循環(huán)風(fēng)葉、冷凝器風(fēng)機(jī)清潔和平衡與清洗蒸發(fā)器相似,因試驗(yàn)箱的工作環(huán)境各異,循環(huán)風(fēng)葉和冷凝器風(fēng)機(jī)上會凝聚很多塵埃等小顆粒物體,應(yīng)定期進(jìn)行清洗。

  微處理器芯片測試裝置水路與加濕器清洗:若水路不暢、加濕器結(jié)垢易導(dǎo)致加濕器干燒,可能損壞加濕器,所以定期對水路與加濕器進(jìn)行清洗。

  微處理器芯片測試裝置堅(jiān)持每次試驗(yàn)完畢后將溫度設(shè)定在環(huán)境溫度附近,工作30分鐘左右后再切斷電源,并擦干凈工作室內(nèi)壁。長期停機(jī)不使用時(shí)應(yīng)定期每半月給產(chǎn)品通電,通電時(shí)間不小于1小時(shí)。

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