無錫冠亞射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。氣流溫度沖擊系統(tǒng)的相關(guān)知識(shí)普及
無錫冠亞射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。
是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。
廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。
氣流溫度沖擊系統(tǒng)的相關(guān)知識(shí)普及
氣流溫度沖擊系統(tǒng)的相關(guān)知識(shí)普及
氣流溫度沖擊系統(tǒng)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
氣流溫度沖擊系統(tǒng)需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開試驗(yàn)箱門，主要原因如下：
氣流溫度沖擊系統(tǒng)是模擬環(huán)境的試驗(yàn)箱，在使用時(shí)，試驗(yàn)箱內(nèi)可能會(huì)有各種端的環(huán)境，例如低溫、高溫高壓、高溫高濕等特殊條件。
1、如果試驗(yàn)箱中正在進(jìn)行-70℃的低溫測(cè)試，這個(gè)時(shí)候打開試驗(yàn)箱門，首先寒冷的氣流會(huì)溢出試驗(yàn)箱，如果我們的手指沒有做任何防護(hù)觸摸到試驗(yàn)箱壁貨樣品上，會(huì)瞬間凍傷，凍傷部位的肌肉組織甚至?xí)乃?。另外在低溫的情況下打開試驗(yàn)箱門可能會(huì)造成蒸發(fā)器結(jié)霜，會(huì)影響降溫速度，甚至有可能會(huì)造成壓縮機(jī)損壞等問題。
2、如果試驗(yàn)箱中正在進(jìn)行高溫150℃的測(cè)試時(shí)打開試驗(yàn)箱門，高溫氣體會(huì)瞬間沖出試驗(yàn)箱，如果沒有做好相關(guān)防護(hù)，很有可能會(huì)燙傷我們的面部，如果試驗(yàn)箱旁有燃點(diǎn)低的可燃物，甚至可能會(huì)引起起火。
3、如果是其他環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，比如恒溫恒濕試驗(yàn)箱在進(jìn)行高溫高濕試驗(yàn)箱時(shí)，儀器內(nèi)的壓力和蒸汽會(huì)非常大，如果在此時(shí)打開試驗(yàn)箱門，也會(huì)有高溫高濕的蒸汽沖出試驗(yàn)箱，也有可能會(huì)對(duì)操作人員造成嚴(yán)重的燙傷。
所以，在氣流溫度沖擊系統(tǒng)運(yùn)行中途，若沒有非常必要打開試驗(yàn)箱門，請(qǐng)勿打開試驗(yàn)線門，如果須要使用中途打開試驗(yàn)箱門，那么請(qǐng)一定做好相關(guān)的防護(hù)措施，用正確的方法打開試驗(yàn)箱門。
