無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司致力于制冷加熱控溫系統(tǒng)、

超低溫冷凍機(jī)、

新能源汽車部件測(cè)試系統(tǒng)、

VOCs冷凝回收裝置、

加熱循環(huán)系統(tǒng)、

防爆電氣設(shè)備、

試驗(yàn)設(shè)備、

工業(yè)超低溫冷凍室的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環(huán)設(shè)備

冠亞—恒溫制冷加熱控溫循環(huán)設(shè)備

一、半導(dǎo)體高低溫測(cè)試設(shè)備背景

半導(dǎo)體高低溫測(cè)試設(shè)備應(yīng)用于半導(dǎo)體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內(nèi)進(jìn)行不同溫度段的溫度測(cè)試。

　　在元器件行業(yè)中，對(duì)各種半導(dǎo)體、芯片的要求比較高，特別需要測(cè)試在不同環(huán)境下元器件的性能狀況以及在封裝組裝生產(chǎn)下不同的溫度測(cè)試以及其他性能測(cè)試，以免在元器件這類的電子產(chǎn)品在進(jìn)入生產(chǎn)之后實(shí)際投放市場(chǎng)面對(duì)各種不同尋常的環(huán)境導(dǎo)致電子元器件不可用。

　　二、半導(dǎo)體高低溫測(cè)試設(shè)備的作用

　　半導(dǎo)體高低溫測(cè)試設(shè)備在元器件、集成電路、模塊、PCB、裝配等應(yīng)用上進(jìn)行高低溫循環(huán)測(cè)試、高低溫溫度沖擊測(cè)試，失效分析等可靠性測(cè)試。除了半導(dǎo)體高低溫測(cè)試設(shè)備還可稱為熱流儀、冷熱氣流沖擊機(jī)、冷熱循環(huán)沖擊裝置、高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)等。

半導(dǎo)體高低溫測(cè)試設(shè)備應(yīng)用于半導(dǎo)體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內(nèi)進(jìn)行不同溫度段的溫度測(cè)試。

半導(dǎo)體高低溫測(cè)試設(shè)備應(yīng)用于半導(dǎo)體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內(nèi)進(jìn)行不同溫度段的溫度測(cè)試。