FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252特點

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

高性能機型，具有強大的綜合測量能力

配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析

由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

典型應用領(lǐng)域

對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析

用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域

FISCHERSCOPE® XDL®

X射線熒光測試儀，可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)零部件