Fischer X-ray熒光射線測(cè)試儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精-確的鍍層厚度測(cè)量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

重量1.9 kg

一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個(gè)小時(shí)

測(cè)量點(diǎn)：3毫米?

高分辨率硅漂移檢測(cè)器

用于戶外的IP54等級(jí)

用作臺(tái)式設(shè)備的可選測(cè)量箱；

使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

Fischer Fischescope x-ray XAN500菲希爾X射線測(cè)厚儀的應(yīng)用：

• 測(cè)試大型樣件，裝配測(cè)量箱后也可以測(cè)試小樣件

• 一次測(cè)試同時(shí)測(cè)定鍍層的厚度和成分（例如，F(xiàn)e上的ZnNi合金）

• 未知合金的無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量

• 大型鍍層零件（例如機(jī)器部件和外殼）的測(cè)量

• 電鍍層的測(cè)試

• 電鍍液金屬含量的分析