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當(dāng)前位置:深圳市科時達(dá)電子科技有限公司>>電子元器件>>五金/焊接/輔料/返修工具>> HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀
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更新時間:2024-11-04 18:21:52瀏覽次數(shù):76次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)日本島津 紫外可見近紅外分光光度計 UV-3600Plus 產(chǎn)品關(guān)鍵
安捷倫 Cary 5000 紫外-可見-近紅外分光光度計 產(chǎn)品關(guān)鍵詞:
日立Hitachi 雙光束紫外可見分光光度計UH5300 產(chǎn)品關(guān)鍵詞
美國Sciex 毛細(xì)管電泳系統(tǒng) P/ACE MDQ plus 檢測儀器
瑞士 sawatec HP-150 熱版機/電爐 精密儀器設(shè)備 產(chǎn)品關(guān)
SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。
SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
產(chǎn)品特點
· 同臺儀器可測三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)
· 寬檢測范圍,寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%
· 自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定
· 軟件操作簡單功能強大,一鍵測量
· 雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)
· 采用微量樣品池
技術(shù)參數(shù)
粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關(guān)光譜法)
粒徑測定范圍:0.3nm ~10μm
粒徑測量精度:±2%(NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm)
Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV
分子量測量原理:Debye plot
分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da
測量角度:90° 和173°(可自動或手動選擇)
樣品量:12μL ~ 1000μL
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