當(dāng)前位置:廣東愛佩試驗設(shè)備有限公司>>可程式恒溫恒濕試驗箱>> AP-KF-45A3生產(chǎn)步入式恒溫恒濕試驗室的廠家
生產(chǎn)步入式恒溫恒濕試驗室的廠家適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)。
性能指標(biāo)
內(nèi)容積10 M3
內(nèi)箱尺寸2500mm * 2000mm * 2000mm (寬*高*深)
外型尺寸(約)3600mm * 2380mm * 2300mm (寬*高*深)
雙開門雙:1000mm×2000mm( 可依客戶要求選擇或定制)
滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb
GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)低溫試驗方法:試驗A
GJB150.3-1986 高溫試驗
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定濕熱試驗方法Cab
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗方法Db
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB150.9-1986 用設(shè)備環(huán)境試驗方法:濕熱試驗
GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗
GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗
GJB367.2-1987 用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法411 濕熱試驗
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB10592-2006 高、低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GJB150.9-1986 濕熱試驗
溫度范圍:0℃~150,-20℃~150℃,-40℃~150℃ ,-70℃~150℃(可選其中一段)
濕度范圍:20%RH~98%RH
溫濕度偏差:±0.3℃,±2%RH
溫濕度均差:±2℃,±3%RH
升溫速率:3℃/min
降溫速率: 0.7~1.2℃/min
濕度速度: 2%RH/-3%RH
制冷劑:R23/R404A
電動百葉窗由循環(huán)風(fēng)管吸進室外環(huán)境溫度,讓負(fù)載的溫度不能再升溫,使室內(nèi)溫度精確穩(wěn)定在所設(shè)定溫度數(shù)值,當(dāng)溫度超過所設(shè)定時通過排風(fēng)機排出室內(nèi)熱風(fēng)并由電動百葉窗由循環(huán)風(fēng)管吸進室外環(huán)境溫度,使室內(nèi)溫度精確穩(wěn)定在所設(shè)定溫度數(shù)值。
生產(chǎn)步入式恒溫恒濕試驗室的廠家產(chǎn)品帶電工作恒濕恒濕箱是一臺要求溫度升降溫可快速變化做試驗的設(shè)備,不管是高溫還是低溫、快速還是慢速,隨用戶的使用要求與試驗條件想變就變,該系列設(shè)備適用于航空航天產(chǎn)品,通訊產(chǎn)品,信息電子儀器儀表,工業(yè)材料,零配件,電子產(chǎn)品,各種電子元器件等物品做應(yīng)力篩選試驗。