SURTRONIC S116粗糙度儀，儀器支持U盤大4G，多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。
SURTRONIC S116粗糙度儀
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測試參數(shù)：
三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
大行程：17.5mm
泰勒霍普森粗糙度儀測試速度：
泰勒霍普森粗糙度儀測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
泰勒霍普森粗糙度儀回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
泰勒霍普森粗糙度儀測試參數(shù)：
執(zhí)行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
測試單位：um/uin
SURTRONIC S116粗糙度儀
SURTRONIC S116比SURTRONIC25有如下改進：
1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；
2、顯示屏為觸摸屏；
3、可以顯示測試圖形；
4、SURTRONIC25只能測試10個參數(shù)，S116在不同標準下可以測量12、11、14個參數(shù)（見技術(shù)參數(shù)）；
5、原來SURTRONIC25使用電位器校準測試結(jié)果，現(xiàn)在改為自動軟件校準。方便使用；
6、顯示屏顯示的結(jié)果（數(shù)據(jù)和圖形）可以旋轉(zhuǎn)，可以方便的從四個方向觀察測試結(jié)果；
7、儀器底部為V形，測試軸類部件方便可靠；
8、測試數(shù)據(jù)存儲增加了存儲圖形功能；
9、可以使用U盤直接存儲，一個4G容量U盤可存儲3.9萬個圖形，數(shù)據(jù)可以存儲70批次，每批次為10萬個測試數(shù)據(jù)。
