EPK MINITEST740，EPK舊款涂層測(cè)厚儀，現(xiàn)在已經(jīng)升級(jí)替換為MINITEST745
EPK MINITEST740
EPK MINITEST740
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀
EPK涂層測(cè)厚儀創(chuàng)新的SIDSP(探頭中的數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提高了測(cè)量精度。
EPK涂層測(cè)厚儀測(cè)量范圍為15毫米，F(xiàn)、N或FN探頭可更換為內(nèi)部或外部探頭。
FN探頭可自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁)或N(非磁)基體，操作簡(jiǎn)單，*。
EPK涂層測(cè)厚儀SIDSP技術(shù)-智能數(shù)字涂層厚度測(cè)量探頭技術(shù)
模擬信號(hào)處理的時(shí)代已經(jīng)過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)。
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀使用的SIDSP是什么？
MINITEST740 SIDSP是由ElektrPhysik(簡(jiǎn)稱EPK)開發(fā)的，世界涂層厚度測(cè)量探頭技術(shù)。EPK這項(xiàng)技術(shù)為涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新的標(biāo)準(zhǔn)。
MINITEST740 SIDSP是探頭內(nèi)部的數(shù)字信號(hào)處理。這項(xiàng)技術(shù)使探頭能夠在測(cè)量時(shí)將信號(hào)*處理成數(shù)字形式。SIDSP探頭*按照world 技術(shù)制造。
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀SIDSP的工作原理？
與傳統(tǒng)技術(shù)不同的是，SIDSP在探頭頂端產(chǎn)生并控制激勵(lì)信號(hào)，返回的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換處理，為您帶來(lái)準(zhǔn)確的涂層厚度值。這種數(shù)字處理技術(shù)也應(yīng)用于現(xiàn)代通信技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))，如數(shù)字濾波、基帶轉(zhuǎn)換、平均值、隨機(jī)分析等等。與模擬信號(hào)處理相比，這種技術(shù)可以獲得更好的信號(hào)質(zhì)量和精確度。厚度值通過(guò)探針電纜以數(shù)字方式傳輸?shù)斤@示設(shè)備。
與普通模擬探頭相比，SIDSP探頭具有決定性的優(yōu)勢(shì)，樹立了涂層厚度測(cè)量的新標(biāo)準(zhǔn)。
