泰勒霍普森代理粗糙度儀

泰勒霍普森代理粗糙度儀

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：

Surtronic DUO量    程：200um

Surtronic DUO行    程：5mm

取樣長度：0.8mm+/-15%

參    數(shù)：Ra：0.1um-40um Ra：0.1um-199um

精    度：Ra:0.1umRz:0.1um

檢測(cè)方式：壓電式

尺    寸：125*80*38mm

重    量：200g

高精度涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、粗糙度、表面輪廓儀、圓度儀、圓柱度的儀器,淬火硬化層深度無損測(cè)量儀,組件清潔度測(cè)試系統(tǒng)、關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo)測(cè)量針探針,工業(yè)電子內(nèi)窺鏡,平面度測(cè)量儀、光譜儀、高度計(jì)、通用長度測(cè)量機(jī),齒輪嚙合儀,齒輪測(cè)量中心、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、硬度計(jì)、滲碳層厚度計(jì)、滲氮層深度無損檢測(cè)儀、紅外熱成像儀、紅外溫度計(jì)、投影儀、視頻測(cè)量儀、材料萬能試驗(yàn)機(jī)、莫尼粘度計(jì)、振動(dòng)計(jì)等精密測(cè)量儀器。

泰勒霍普森粗糙度儀應(yīng)用：

用戶友好的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置，用于參數(shù)Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量。