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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層金屬電鍍測(cè)厚儀YT8200是3nh公司制造的*擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀，能依據(jù)磁性法快速、準(zhǔn)確的無(wú)損檢測(cè)各種涂覆在鐵磁性金屬基底上的各種非磁性涂層厚度。
鐵基涂層測(cè)厚儀YT8200測(cè)量準(zhǔn)確、測(cè)試量程大、多種校正模式、多種測(cè)量模式、定位方便、功能強(qiáng)大，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測(cè)領(lǐng)域，是涂層表面處理行業(yè)的基本裝備。
Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度，例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。
經(jīng)濟(jì)型分體鐵基金屬電鍍測(cè)厚儀YT8200特點(diǎn)
1、支持零點(diǎn)、單點(diǎn)、五點(diǎn)校正
支持多種校正方式，測(cè)試更便捷，可滿足更高測(cè)試精度需求
五點(diǎn)校正
2、IPS純彩屏，操作流暢，存儲(chǔ)容量大
IPS純彩屏
3、測(cè)量模式豐富
涂層測(cè)厚儀YT8200有基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式可供選擇，適應(yīng)更多測(cè)試場(chǎng)景
測(cè)量模式豐富
4、精確測(cè)量曲面平面
凸面半徑5mm；凹面半徑10mm
精確測(cè)量曲面平面
5、高靈敏探頭
自主研發(fā)高靈敏探頭反應(yīng)速度快，測(cè)試更加準(zhǔn)確
高靈敏探頭
6、支持藍(lán)牙，手機(jī)APP、微信小程序更多擴(kuò)展功能
可即時(shí)通過(guò)藍(lán)牙把測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)绞謾C(jī)，進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)編輯和處理，輸出測(cè)試報(bào)告。
支持藍(lán)牙
經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測(cè)厚儀YT8200技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào) | YT8200 |
產(chǎn)品名稱(chēng) | 經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測(cè)厚儀 |
特性 | Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度，例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。 |
符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM B499,ASTM D1400，ASTM D709; |
基體模式 | 鐵基 |
探頭形式 | 分體式 |
定位結(jié)構(gòu) | / |
分辨率 | 1μm |
測(cè)量范圍 | 0~2000μm |
測(cè)量精度 | 零點(diǎn)校正:±(3%H+1)μm； |
顯示屏 | IPS全彩屏, 1.14inch |
接口 | Type C USB;藍(lán)牙5.0；按鍵 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù) | 1000條 |
電池電量 | 鋰電池，充滿電單次可連續(xù)測(cè)試10000 |
測(cè)量模式 | 基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式 |
ZUI小測(cè)量尺寸 | 10×10mm |
ZUI小測(cè)量厚度 | 磁性：0.2mm |
ZUI小曲率 | 凸面半徑5mm；凹面半徑10mm |
顯示單位 | μm/mil |
尺寸 | 102×50×20mm(探頭?18x69) |
重量 | 80g |
工作溫度 | 0~40oC(10~90%RH無(wú)凝露) |
儲(chǔ)存溫度 | -10~50oC |
軟件支持 | 微信小程序,鴻蒙,Windows,Andriod,IOS |
標(biāo)準(zhǔn)附件 | 基體1塊(鐵基體),腕帶，擦拭布,USB數(shù)據(jù)線，定位片，校準(zhǔn)片 |
可選附件 | 打印機(jī)，5V-2A電源適配器 |
注： | 校準(zhǔn)片一套5片(厚度略有差異)，技術(shù)參數(shù)僅為參考，以實(shí)際銷(xiāo)售產(chǎn)品為準(zhǔn) |
涂層測(cè)厚儀測(cè)量影響因素：
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
d邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。