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激光共聚焦顯微鏡高度測(cè)量原理

閱讀：1288 發(fā)布時(shí)間：2023-10-18

激光共聚焦顯微鏡（LaserScanningConfocalMicroscope，簡(jiǎn)稱LSCM）是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的三維形貌進(jìn)行測(cè)量。其高度測(cè)量原理主要基于激光共聚焦原理和掃描探測(cè)技術(shù)。

激光共聚焦原理是指通過將激光束聚焦到樣品表面上的一個(gè)點(diǎn)，然后通過探測(cè)器接收反射回來的光信號(hào)。在聚焦點(diǎn)附近，只有來自該點(diǎn)的光信號(hào)能夠通過一個(gè)小孔進(jìn)入探測(cè)器，其他位置的光信號(hào)會(huì)被屏蔽掉。這樣可以消除樣品表面其他位置的散射光信號(hào)，提高圖像的清晰度和對(duì)比度。

在高度測(cè)量中，激光束被聚焦到樣品表面上的一個(gè)點(diǎn)，然后通過探測(cè)器接收反射回來的光信號(hào)。當(dāng)樣品表面存在高度差時(shí)，反射回來的光信號(hào)會(huì)發(fā)生相位差，這個(gè)相位差可以用來計(jì)算樣品表面的高度差。

為了實(shí)現(xiàn)高度測(cè)量，LSCM通常采用掃描探測(cè)技術(shù)。通過控制激光束在樣品表面上進(jìn)行掃描，可以獲取到不同位置的光信號(hào)。通過對(duì)這些光信號(hào)進(jìn)行處理和分析，可以得到樣品表面的三維形貌信息。

總結(jié)起來，激光共聚焦顯微鏡的高度測(cè)量原理是通過激光共聚焦原理和掃描探測(cè)技術(shù)，利用反射回來的光信號(hào)的相位差來計(jì)算樣品表面的高度差。這種原理可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的高分辨率三維形貌測(cè)量。

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激光共聚焦顯微鏡高度測(cè)量原理

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