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德國菲希爾鍍層測(cè)厚儀xdv-μ-pcbXDV-μ型系列儀器是專為在很微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)星和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)...
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀helmut-fischer xan500FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線...
FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測(cè)量鍍層厚度和成...
fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測(cè)厚儀有三個(gè)型號(hào):XDLM 231具有平面支撐臺(tái),XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配...
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