您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品分類品牌分類
-
變頻門窗三性檢測儀 防盜門軟沖擊檢測設(shè)備 門窗角強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 門窗力學(xué)性能試驗(yàn)機(jī) 閥門檢測臺(tái) 管路連接件測試臺(tái) 暖氣片測試臺(tái) 電線電纜耐燃燒試驗(yàn)機(jī) 高壓綜合參數(shù)測試臺(tái) 電纜安全參數(shù)測試儀 斷路器壽命測試儀 塑性管材耐壓測定儀 落錘沖擊試驗(yàn)機(jī) 鋼管扣件力學(xué)性能試驗(yàn)機(jī) 安全帽側(cè)向剛性試驗(yàn)儀 安全帽沖擊抗穿刺試驗(yàn)機(jī) 安全帶靜負(fù)荷試驗(yàn)機(jī) 安全帶沖擊性能試驗(yàn)機(jī) 陶瓷磚綜合測定儀 陶瓷沖擊韌性測定 數(shù)顯陶瓷磚抗折試驗(yàn)機(jī) 陶瓷磚抗熱震性試驗(yàn)機(jī) 陶瓷磚釉面耐磨試驗(yàn)機(jī) 陶瓷磚真空吸水率檢測儀 陶瓷彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 無釉磚耐磨試驗(yàn)機(jī) 陶瓷磚斷裂模數(shù)強(qiáng)度檢測儀 陶瓷磚恢復(fù)系數(shù)測定儀 陶瓷磚測厚儀
-
三軸壓縮試驗(yàn)系統(tǒng) 全自動(dòng)固結(jié)試驗(yàn)系統(tǒng) 電動(dòng)相對密度儀 土壤滲透儀 表面震動(dòng)壓實(shí)儀 平板載荷儀 土壤膨漲儀 土壤收縮儀 三聯(lián)高壓固結(jié)儀 多功能屏顯路強(qiáng)儀 光電液塑限聯(lián)合測定儀 石灰土無側(cè)限壓力機(jī) 天然坡度儀 砌墻磚凍融試驗(yàn)箱 磚瓦爆裂蒸煮箱 數(shù)控磚瓦泛霜箱 電動(dòng)脫模器 沙浴電爐 數(shù)控震擊式標(biāo)準(zhǔn)振篩機(jī) 多功能直讀式測鈣儀 土壤水份速測儀 數(shù)顯土壤硬度檢測儀 土壤濕度密度儀 土壤貫入阻力儀 泥漿含砂量測定儀 泥漿粘度計(jì) 泥漿比重計(jì) 泥漿失水量檢測儀 電動(dòng)探釬觸探儀 現(xiàn)場剪力儀 旁壓儀 石灰劑量檢測儀 粗粒土表面振動(dòng)壓實(shí)儀 粗粒土現(xiàn)場滲透變形檢測儀 電液伺服巖石三軸試驗(yàn)機(jī) 巖石單軸抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 微機(jī)控制巖石抗壓剪試驗(yàn)機(jī) 巖石壓入硬度計(jì) 巖石側(cè)向約束膨脹率試驗(yàn)儀 便攜式點(diǎn)荷載試驗(yàn)儀 巖石滲透系數(shù)檢測儀 巖石電動(dòng)應(yīng)力式直剪儀 巖石彈性模量試驗(yàn)機(jī) 巖石膨脹壓力測試儀 巖石耐崩解試驗(yàn)儀 粗粒土垂直滲透變形儀
超聲波探傷儀如何定位缺陷
我們做超聲波探傷檢測要做到效率和準(zhǔn)確，這就要求我們使用性能穩(wěn)定的儀器，掌握專業(yè)的檢測知識(shí)，了解探測方法。超聲波探傷儀相對于其他傳統(tǒng)的探傷儀，它的性、便捷性、快速等多方面的性能都更勝*。探測缺陷要結(jié)合實(shí)際情況找準(zhǔn)缺陷位置，所以我們之前要首先對缺陷進(jìn)行定位。
下面我們就講解一下超聲波探傷儀缺陷定位的情況：
一、 零點(diǎn)調(diào)理
因?yàn)槌暡ń?jīng)過維護(hù)膜、耦合劑（直探頭）或有機(jī)玻璃楔塊（斜探頭）進(jìn)入待測工件的，缺陷定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才干獲得超聲波在工件中實(shí)踐聲程。
零點(diǎn)普通是經(jīng)過已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面（斜探頭）或深100mm的大平底（直探頭）。
二、K值調(diào)理
因?yàn)樾碧筋^探傷時(shí)不只要曉得缺陷的聲程，更要得出缺陷的垂直和程度地位，因而斜探頭還要準(zhǔn)確測定其K值（折射角）才干地對缺陷進(jìn)行定位。
K值普通是經(jīng)過對具有已知深度孔的試塊來調(diào)理，磁粉探傷機(jī)如用CSK-IA試塊?50或?1.5的孔。
三、定量調(diào)理
定量調(diào)理普通采用AVG（直探頭）或DAC（斜探頭）。
四、缺陷定位
超聲波探傷中測定缺陷地位簡稱缺陷定位。
1、縱波（直探頭）定位
縱波定位較簡略，如探頭波束軸線不偏離，缺陷波在屏幕上地位等于缺陷至探頭在垂直偏向的間隔。
2、外表波定位
外表波探傷定位與縱波定位根本相似超聲波探傷儀只是缺陷位于工件外表，缺陷波在屏幕上地位是缺陷至探頭在程度偏向的間隔（此時(shí)要思索探頭前沿）。
3、橫波定位
橫波斜探頭探傷定位由缺陷的聲程和探頭的折射角或缺陷的程度和垂直偏向的投影來確定。
4、橫波周向探測圓柱面時(shí)缺陷定位周向探傷時(shí)，缺陷定位與平面探傷分歧。