產(chǎn)品簡介
E5071B具有一體化的2、3或4個測試端口,從而能對從2端口濾波器
到多端口器件如雙工器和耦合器的各種元件進行測量。ENA系列提供內(nèi)置平衡測量、匹配電
路模擬和端口特性阻抗變和差動放大器給出精確測量結(jié)果。這些綜合測試能力可以進行快速、
精確的測量并提高工作效率。
詳細介紹
Agilent 網(wǎng)絡(luò)分析儀 9成新 E5071B
主要特性:
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ® for Applications(VBA)
產(chǎn)品概述:
頻率范圍:E5071B 300KHz-8.5GHz
Agilent ENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀能為研發(fā)評估和生產(chǎn)測試完成快速、精確的射頻元件測量。
E5071B具有一體化的2、3或4個測試端口,從而能對從2端口濾波器
到多端口器件如雙工器和耦合器的各種元件進行測量。ENA系列提供內(nèi)置平衡測量、匹配電
路模擬和端口特性阻抗變和差動放大器給出精確測量結(jié)果。這些綜合測試能力可以進行快速、
精確的測量并提高工作效率。
E5071B-285 2端口 300KHZ~8.5GHZ
E5071B-485 4端口 300KHZ~8.5GHZ
訂貨信息:
E507×B—008 頻偏模式
E507×B—010 時域分析能力
E507×B—214 2端口S參數(shù)測試裝置
E507×B—314 3端口S參數(shù)測試裝置
E507×B—414 4端口S參數(shù)測試裝置
E507×B—016 觸摸屏彩色LCD
E507×B—1E5 高穩(wěn)定度頻率基準
附件:
校準件 HP85033D/E (3.5mm)
校準件 HP85032B (N型)
Agilent 網(wǎng)絡(luò)分析儀 9成新 E5071B