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產(chǎn)品介紹：
SEM原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結(jié)構(gòu)研究，固定在現(xiàn)有樣品臺上。支持在現(xiàn)有各種掃描電子顯微鏡（蔡司、日立等）適配。

產(chǎn)品特點：

電熱、液氮可實現(xiàn)快速升降溫

可增加試樣溫度監(jiān)測溫度傳感器

溫控精度高±0.1℃，可編程階梯控溫

溫控范圍寬（-185~50℃ / -185~200℃）

可以在較大的電子束流下獲得高質(zhì)量圖像

可適配SEM定制樣品架，安裝/拆卸過程簡單

制冷完成測試后可快速（60℃/min）升溫達到室溫，正常更換樣品，測試效率高。

常溫下的鎵樣品


-185℃下的鎵樣品