當(dāng)前位置:濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司>>公司動(dòng)態(tài)>>濟(jì)南微納受邀參加《粒度分析 動(dòng)態(tài)光散射法》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)宣貫會(huì)
濟(jì)南微納受邀參加《粒度分析 動(dòng)態(tài)光散射法》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)宣貫會(huì)
我國(guó)在納米材料相關(guān)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)已發(fā)布實(shí)施多項(xiàng),新技術(shù)轉(zhuǎn)化的標(biāo)準(zhǔn)的宣貫工作迫在眉睫,為提高科研技術(shù)人員的研究分析能力,相互交流研究心得,同時(shí)為執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)做好充分的準(zhǔn)備,北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)、全國(guó)顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)、全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)于2013年11月26日在北京國(guó)家納米科學(xué)中心聯(lián)合舉辦納米測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)系列講座。
作為中國(guó)顆粒測(cè)試技術(shù)的者的濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司,被選為系列宣貫的*講。與會(huì)期間我司陳棟章總工將進(jìn)行《粒度分析動(dòng)態(tài)光散射法》GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008的講座。歡迎業(yè)內(nèi)廣大新老客戶及關(guān)系單位屆時(shí)參與此次盛會(huì)。濟(jì)南微納受邀參加此次會(huì)議力驗(yàn)證評(píng)定,是國(guó)家部門對(duì)微納多年來(lái)不懈努力所取得成績(jī)的認(rèn)可。濟(jì)南微納將不負(fù)所望,秉承自身作為中國(guó)顆粒測(cè)試技術(shù)的者的職責(zé),為廣大用戶提供優(yōu)異的儀器與滿意的服務(wù),繼續(xù)為中國(guó)粒度測(cè)試技術(shù)趕超世界*水平做出不懈努力。
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