E5071A

Agilent E5071A 網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071A相關(guān)技術(shù)資料:

·內(nèi)置接口，如GPIB，10/100BaseT以太網(wǎng)，USB接口，VGA和平行的，也包括在內(nèi)。

·300 kHz至8.5千兆赫

·一百二十五分貝在測(cè)試端口動(dòng)態(tài)范圍（典型）

·9.6我們/點(diǎn)掃描速度

·0.001分貝有效值跡線噪聲

66、誰(shuí)家秋院無(wú)風(fēng)入？何處秋窗無(wú)雨聲？——曹雪芹

67、岸雨過城頭，黃鸝上戍樓。——岑參

68、孤煙村際起，歸雁天邊去?！虾迫?/strong>

69、七八個(gè)星天外，兩三點(diǎn)雨山前。——辛棄疾

70、一年好景君須記，最是橙黃橘綠時(shí)?！K軾

71、若教眼底無(wú)離恨，不信人間有白頭。——辛棄疾

72、柳暝河橋，鶯晴臺(tái)苑，短策頻惹春香?！獏俏挠?/strong>

73、擢擢當(dāng)軒竹，青青重歲寒?！獏翁?/strong>

74、善在美的后面，是美的本原?！章宥?/strong>

75、禪邊風(fēng)味客邊愁，饋我清光又滿樓。——慧霖

·綜合2 - ，3 -和4端口全面的端口可校正

·4332320 /量程下限校準(zhǔn)非同軸測(cè)量

·內(nèi)置均衡測(cè)量解釋混合模式S參數(shù)

·Fixtrue嵌入/解嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換

Agilent E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071A概要說明產(chǎn)品概述和應(yīng)用實(shí)例:

安捷倫Agilent E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了全面的測(cè)量能力測(cè)試都需要多端口和平衡設(shè)備。

Agilent E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀E5071A含計(jì)量證書

ENA系列提供了2 - ，3 - ，或4對(duì)這些多端口設(shè)備的所有信號(hào)路徑的同步測(cè)量測(cè)試端口。

在ENA系列提供諸如廣泛的時(shí)域分析功能轉(zhuǎn)換與門和混合模式匹配電路嵌入/ S參數(shù)測(cè)量去嵌入和阻抗轉(zhuǎn)換。

除了內(nèi)置的Microsoft Visual Basic中為應(yīng)用程序（VBA）的能力，分析儀都可通過其COM或SCPI命令接口。

E5071A網(wǎng)絡(luò)分析儀Agilent E5071A選件(016 1E5 414)

在ENA系列有一個(gè)基于Windows 的用戶界面和大型10.4英寸液晶顯示器。

內(nèi)置接口，如GPIB，10/100BaseT以太網(wǎng)，USB接口，VGA和平行的，也包括在內(nèi)。

Agilent E5071A 3G射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀 9kHz-3GHz

* 300 kHz to 8.5 GHz
* 125 dB dynamic range at test port (typical)
* 9.6 μs/point sweep speed
* 0.001 dB rms trace noise
* Integrated 2-, 3- and 4-ports available with full port correction
* TRL/LRL calibration for non-coaxial measurements
* Built-in balanced measurement to interpret mixed mode S-parameters
* Fixtrue embedding/de-embedding and port characteristic impedance conversion
* Time domain transform with gating
* Up to 9 ports extension using E5091A multiport test set
* Bundled Microsoft Visual Basic for Applications
* 10.4-inch color LCD

The Agilent E5071A network analyzer provides the comprehensive measurement capability required to test both multiport and balanced devices. The ENA Series offer 2-, 3-, or 4-test ports for simultaneous measurement of all signal paths in these multiport devices.