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常用的粒度測(cè)量方法以及優(yōu)缺點(diǎn)是什么？
常用的粒度測(cè)量方法以及優(yōu)缺點(diǎn)是什么？
（1）篩分法
（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）
（3）電阻法（庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器）
（4）顯微鏡（圖像）法
（5）電鏡法
（6）超聲波法
（7）透氣法
（8）激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)
篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無法測(cè)超細(xì)顆粒。
沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。 缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長。
電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測(cè)顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。 缺點(diǎn)：測(cè)試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。 缺點(diǎn)：分辨率較低。
透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體。 缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布。
激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。 缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大。