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東莞市科迪儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第16年

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鹽霧試驗(yàn)機(jī)
恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
可程式高低溫試驗(yàn)機(jī)
鹽水浸泡試驗(yàn)機(jī)系列
模擬環(huán)境類檢測(cè)儀器
精密光學(xué)類檢測(cè)儀器
厚度檢測(cè)類儀器設(shè)備
包裝運(yùn)輸類檢測(cè)儀器
可靠性品質(zhì)檢測(cè)設(shè)備
拉壓力材料試驗(yàn)機(jī)
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紫外線殺菌機(jī)產(chǎn)品
硬度試驗(yàn)機(jī)儀器設(shè)備
自行車、家具類試驗(yàn)機(jī)設(shè)備

為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo),在研制階段需要對(duì)樣品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)

時(shí)間:2022/3/29閱讀:817
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為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo),在研制階段需要對(duì)樣品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)

    為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo),在研制階段需要對(duì)樣品進(jìn)行可靠性試驗(yàn),以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問(wèn)題,而加以改進(jìn),經(jīng)過(guò)反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn),就能不斷地提高產(chǎn)品的各項(xiàng)可靠性指標(biāo),達(dá)到預(yù)定的要求。以下是由東莞市科迪儀器有限公司所整理的適應(yīng)不同環(huán)境的可靠性試驗(yàn)設(shè)備:

一、高溫烤箱

考核在不增強(qiáng)電應(yīng)力的情況下,高溫對(duì)產(chǎn)品的影響。有嚴(yán)重缺陷的產(chǎn)品處在非平衡態(tài),是不穩(wěn)定態(tài),由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過(guò)渡過(guò)程既是誘發(fā)有嚴(yán)重缺陷產(chǎn)品失效的過(guò)程,也是為了促進(jìn)產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過(guò)渡過(guò)程。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.2-2008

二、高低溫試驗(yàn)箱

考核產(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對(duì)高溫和低溫環(huán)境的承受能力.是針對(duì)產(chǎn)品熱機(jī)械性能設(shè)置的。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差,或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí),溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):IEC68-2-30 ,GB10592-93 ,GB2423.1-2001,GB2423.2-2001,GB2423.3-93,GB2423.4-93

三、熱沖擊試驗(yàn)箱

試驗(yàn)產(chǎn)品在溫度劇烈變化,就是承受大溫度變化速率的能力。試驗(yàn)為了找出產(chǎn)品的機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化,從而改善,熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的目的大同小異,不過(guò)熱沖擊試驗(yàn)的條件比溫度循環(huán)試驗(yàn)要嚴(yán)酷得多。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.59-2008, GB11158, GB10592, GB10589

四、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱

試驗(yàn)產(chǎn)品在低氣壓工作環(huán)境的適應(yīng)能力。當(dāng)氣壓減小時(shí)空氣或絕緣材料的絕緣強(qiáng)度會(huì)減弱;易產(chǎn)生電暈放電、介質(zhì)損耗等;氣壓減小會(huì)導(dǎo)致散熱條件變差,會(huì)使元器件溫度加大。這些因素都會(huì)使被試驗(yàn)產(chǎn)品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功能,有時(shí)會(huì)產(chǎn)生損傷。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.21-2008, GJB150.2, GJB360A, GB/T13543

五、恒溫恒濕試驗(yàn)箱

以施加加速應(yīng)力的方法評(píng)定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力,是針對(duì)典型的熱帶氣候環(huán)境設(shè)計(jì)的。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機(jī)理是由化學(xué)過(guò)程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過(guò)程。試驗(yàn)也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性,電解會(huì)使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化,使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢?/span>

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.3-2016, GB/T 2423.4-2008 GJB 1509, GB/T 2423.34-2016

六、鹽霧試驗(yàn)箱

以加速的方法評(píng)定元器件外露部分在鹽霧、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力,是針對(duì)熱帶海邊設(shè)計(jì)的.表面結(jié)構(gòu)狀態(tài)差的元器件在鹽霧、湘濕和炎熱的狀態(tài)下外露部分會(huì)產(chǎn)生腐蝕。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.17-2008, GB/T 10587-2006, GB/T 10125-2012

   以上就是關(guān)于產(chǎn)品可靠性環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備,希望看完之后能夠?qū)δ兴鶐椭?,如果您想要了解更多關(guān)于可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備相關(guān)內(nèi)容,可以咨詢科迪儀器,我們必將竭誠(chéng)為您服務(wù)。



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