產(chǎn)品簡(jiǎn)介
美國(guó)DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測(cè)厚儀,帶A/B掃描功能,可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置。
標(biāo)準(zhǔn)版為灰度顯示屏,可選彩屏版。
詳細(xì)介紹
美國(guó)達(dá)高特-多功能超聲波測(cè)厚儀CMXDL+ 多功能超聲波測(cè)厚儀CMXDL+ |
儀器特點(diǎn) | |
美國(guó)DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測(cè)厚儀,帶A/B掃描功能,可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置。
標(biāo)準(zhǔn)版為灰度顯示屏,可選彩屏版。
- | 100MHz FPGA時(shí)序電路設(shè)計(jì) |
美國(guó)達(dá)高特-多功能超聲波測(cè)厚儀CMXDL+
技術(shù)參數(shù) | |
測(cè)量 | |
脈沖-回波(P-E)模式測(cè)量范圍:0.63mm~30.48m(鋼) | |
顯示 | |
顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素??梢晠^(qū)62x45.7mm,EL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素 | |
超聲波參數(shù) | |
測(cè)量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT | |
探頭 | |
頻率范圍:1~20MHz | |
存儲(chǔ) | |
容量:內(nèi)置4GB SD卡 | |
功能 | |
設(shè)置:64個(gè)用戶定義設(shè)置,用戶也可編輯出廠設(shè)置 | |
其他 | |
鍵盤:12個(gè)觸摸鍵 | |
雙晶探頭 | |
型號(hào) | 頻率 | 探頭晶片直徑 | 探頭防磨面直徑 | 測(cè)量范圍 | 說(shuō)明 |
PT-102-2900 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 標(biāo)準(zhǔn)CT探頭(可測(cè)涂層厚度) |
PT-101-2900 | 5.0MHz | 4.76mm | 6.35mm | 1.0~50mm | 小管徑CT探頭 |
PT-102-3300 | 7.5MHz | 6.35mm | 9.53mm | 0.63~152mm | 薄探頭 |
PT-104-2900 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 厚CT探頭 |
PT-042-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭,340℃ |
PT-044-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 厚高溫探頭,340℃ |
PT-212-2001 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 高溫探頭,480℃ |
PT-214-2001 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 厚高溫探頭,480℃ |
注:測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑
單晶探頭 | |
探頭型號(hào) | 頻率 | 描述 | 說(shuō)明 |
PT-402-5507 | 15MHz | 晶片Ø6.35mm | 標(biāo)準(zhǔn)延遲塊探頭 |
PT-402-6507 | 20MHz | 晶片Ø6.35mm | 延遲塊探頭 |
PT-4903-2875 | 5MHz | 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm | 接觸式探頭 |
PT-4903-4875 | 10MHz | 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm | 接觸式探頭 |
PT-4023-2855 | 5MHz | 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm | 接觸式探頭 |
PT-4023-4855 | 10MHz | 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm | 接觸式探頭 |
PT-481-4507 | 10MHz | 延遲塊前端Ø1.59mm | 筆式探頭 |