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更新時間：2024-02-22 14:54:23瀏覽次數(shù)：427
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ZLG 致遠(yuǎn) ZDS5054A電源分析型示波器
在節(jié)能減排的時代背景下，從毫瓦級到兆瓦級的開關(guān)電源產(chǎn)品，都在往高頻、高效、高密度、智能化的方向發(fā)展，對于開關(guān)器件、磁性元件、電容、電感等器件的測試要求越來越高。ZDS5054A電源分析型示波器，針對電源白盒測試開發(fā)了電源分析、環(huán)路分析、電源通信協(xié)議解碼等功能，幫助工程師快速設(shè)計高效率、高可靠的電源。
| 型號 | 帶寬 | 通道數(shù) | 最高采樣率 | 最高波形刷新率 | 最大存儲深度 | 內(nèi)置信號源 |
|---|---|---|---|---|---|---|
ZDS5054Pro  | 500MHz | 4 | 4GSa/s | 1Mwfms/s | 512Mpts | 2ch |
| ZDS5054D | 500MHz | 4 | 4GSa/s | 600kwfms/s | 512Mpts | 2ch |
| ZDS5054A | 500MHz | 4 | 4GSa/s | 330kwfms/s | 250Mpts | 2ch |
電源分析：助力電源信號完整性分析
ZLG 致遠(yuǎn) ZDS5054A電源分析型示波器電源分析功能涵蓋了輸入輸出特性測試，MOSFET、磁性元件、電容、電感等器件分析，調(diào)制波形測試等功能，評測電源可靠性。
MOSFET開關(guān)損耗精準(zhǔn)量化
功率MOSFET開關(guān)損耗測試是PFC電源調(diào)試中的難點，由于SPWM每個周期的開關(guān)損耗都不相同，傳統(tǒng)通過手光標(biāo)和數(shù)學(xué)運算手動測試的方式已經(jīng)不適用。ZLG 致遠(yuǎn) ZDS5054A電源分析型示波器標(biāo)配250Mpts存儲深度，可捕獲多個完整調(diào)制周期SPWM波形，自動統(tǒng)計各開關(guān)周期的開通/關(guān)斷/導(dǎo)通損耗，計算最大值、最小值、平均值，準(zhǔn)確量化開關(guān)器件的功率損耗。
SOA測試：有效保障MOSFET工作安全
功率MOSFET瞬時電壓、電流、功率超出安全工作區(qū)，會導(dǎo)致器件損壞、爆炸的風(fēng)險陡增，常規(guī)調(diào)試手段難以對器件的各種工況進行全面評估。SOA 安全工作區(qū)分析功能，可統(tǒng)計MOSFET在所有工況下瞬時參數(shù)超出安全工作區(qū)的概率，便于工程師更好的評估電源工作穩(wěn)定性。
環(huán)路分析：快速判斷電源環(huán)路穩(wěn)定性
穩(wěn)定的反饋環(huán)路對開關(guān)電源來說是非常重要的，如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度，電源的動態(tài)性能就會很差或者出現(xiàn)輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現(xiàn)負(fù)反饋系統(tǒng)的增益、相位的頻率響應(yīng)曲線，通過分析系統(tǒng)的增益余量與相位余量，可以判斷控制系統(tǒng)是否穩(wěn)定。
內(nèi)置雙通道AFG信號發(fā)生器
內(nèi)置函數(shù)信號發(fā)生器，支持正弦波、三角波、方波、鋸齒波等標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信號輸出，頻率高達(dá)30MHz，可以自動掃描電源控制環(huán)路伯德圖，自動顯示相位裕度和增益裕度等參數(shù)，幫助工程師快速進行環(huán)路分析，加快調(diào)試效率。
行業(yè)應(yīng)用
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