DriveThru 測試支持用戶使用 VTEP 技術(shù)通過串聯(lián)元器件（例如電阻器、電容器和電感器）測試器件。在沒有針對集成電路和/或連接器的直接測試接入時，DriveThru 通過提供測試它們的方法，擴展了 VTEP 的功能。實際上，它使用串聯(lián)元器件的另一端上的測點，以產(chǎn)生所需的激勵。這將有助于實現(xiàn) VTEP 測試，同時還可測試串聯(lián)元器件是否存在。

DriveThru 特別適用于多節(jié)點電路板設(shè)計，其中在驅(qū)動器引腳上放置了敏感（small-valued）串聯(lián)阻尼電阻，以吸收高速數(shù)字設(shè)計中的作用。
技巧：通常使用電阻包。一個好的 DFT 技巧是預(yù)留一個子電阻器兩端的測試接入以進行模擬測量。使用 DriveThru 測試剩余子電阻器。通過這種方法，用戶現(xiàn)在可以探測一個電阻包中每個子電阻器的存在/導(dǎo)電性，并且可以對電阻值進行典型測量，同時減少所需的測試接入。同樣的技巧也適用于電容器和電感器。