WPA-200應(yīng)力儀通過具有雙折射的透明物體時，偏光狀態(tài)會發(fā)生改變（光彈性原理）。相反，通過光透過物體前后偏光狀態(tài)的比較，可以對物體的雙折射進行分析。利用photonic結(jié)晶和薄膜組成的偏光檢測儀器可以捕捉到偏光信息。加之利用了專用的計算、圖像處理軟件，讓應(yīng)力分布狀況能定量化、數(shù)據(jù)化和可視化、WPA-200-Photonic Lattice相位差測試儀器

WPA-200-Photonic Lattice相位差測試儀器

WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，測量技術(shù)，使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學(xué)薄膜或透明樹脂。量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200主要特點:

操作簡單，測量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤCamera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機構(gòu)。
市場覆蓋率較高的殘余應(yīng)力測量設(shè)備。

主要應(yīng)用：

·光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導(dǎo)光板）

·透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

·透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

·透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結(jié)晶鉆石）

·有機材料（球晶、FishEve）

技術(shù)參數(shù)：

項次	項目	具體參數(shù)
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm、543nm、575nm

3	雙折射測量范圍	0-3500nm

4	測量小分辨率	0.001nm

5	測量重復(fù)精度	<1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	218x290mm-360×480mm（標(biāo)準(zhǔn)）

7	選配鏡頭視野	無選配

8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制，CD模式

Photonic Lattice雙折射相位差測試儀器

WPA-200-Photonic Lattice相位差測試儀器

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