馬波斯WRSP60掃描式測頭，

      通過對新部件的輪廓和表面進行接觸式掃描，直接在機加環(huán)境中進行精確、完整的質(zhì)量控制。

　　由于WRSP60是無線電傳輸類型測頭，它適用于任何類型的芯片分離式機床。WRSP60測頭與標準的接觸式測頭不同，它可進行質(zhì)量控制、零件錯位矯正和表面變形檢查、修正切割程序，可對比檢查運行和部件定位。

　　系統(tǒng)運用集成接口給WRI接收器傳輸數(shù)據(jù)， 數(shù)據(jù)通過馬波斯先進的軟件包進行收集、分析 和展示。

　馬波斯第一個高精度接觸式測頭被設計用 于磨具和磨床。由于其創(chuàng)新的壓電技術，在3D 幾何表面上也具備高性能。 　　

  這一創(chuàng)新的系統(tǒng)意味著它在每個觸發(fā)方向 都能夠具有無預行程和較小的觸發(fā)力，且在所 有方向重度精度小于1微米。 　　

  由于其緊湊的幾何形狀，它也適合用于非 常小的生產(chǎn)空間。