1、HN7011A手持式直流電阻測(cè)試儀
溫升直流電阻測(cè)試儀 絕緣油耐壓測(cè)試儀
性能特點(diǎn)

1、電馳供電或者220V交流供電自適應(yīng)，一次充電。

2、輸出六檔電流，輸出10A電流，輸出25V電壓，并且可自動(dòng)選擇電流。

3、量程寬、準(zhǔn)度高，500uΩ～50KΩ。

4、具有電阻溫度換算功能，可選配無(wú)線測(cè)溫模塊，實(shí)時(shí)測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)試品溫度，以確保電阻折算值的準(zhǔn)確性。允許服務(wù)器從工廠車(chē)間的控制器收集實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，并在標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行檢索、添加、刪除和更新數(shù)據(jù)記錄。這是通過(guò)支持與微軟Access兼容的數(shù)據(jù)庫(kù)、結(jié)構(gòu)化查詢(xún)語(yǔ)言（SQL）服務(wù)器或開(kāi)放式數(shù)據(jù)庫(kù)連接（ODBC）的連接來(lái)完成的。一些市場(chǎng)上的軟件工具允許用戶(hù)在IT企業(yè)系統(tǒng)和PLC之間建立連接，從而可以從PLC收集數(shù)據(jù)并保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中。這些服務(wù)器的配置工作量通常很小，用戶(hù)可以將其配置為僅收集其流程所需的數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)庫(kù)功能，提供了跟蹤物料移動(dòng)和生產(chǎn)指標(biāo)的實(shí)際應(yīng)用。

HN7010A變壓器直流電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品特點(diǎn)
    1、整機(jī)由單片機(jī)控制，自動(dòng)化程度高，操作簡(jiǎn)便。
    2、儀器采用電源技術(shù)，電流檔位多，測(cè)量范圍寬，可根據(jù)負(fù)載選擇電流，適合中小型變壓器和電壓互感器的直流電阻測(cè)量。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。
   變壓器直流電阻測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)
    1、輸出電流：

<5mA、40mA、200mA、1A、5A、10A、20A、40A、60A、100A、600A
    2、分辨率：0.1μΩ
    3、量程：100Ω-20KΩ  （<5mA檔）   

1Ω-200Ω （40mA檔）   

100mΩ-40Ω   (200mA檔)       

5mΩ-6Ω    (1A檔)
          1mΩ-2Ω   (3A檔)             

0.5mΩ-200mΩ(10A檔)
    4、準(zhǔn)確度：±(0.2%+2字)
   即使總線存在一定范圍內(nèi)的共模干擾，也能正確進(jìn)行以上識(shí)別。測(cè)試原理框圖如下圖，其中框圖中的U1是DUT供電電壓、U2是共模電壓、U3是差分電平。CANDT設(shè)備隱性輸入電壓限值測(cè)試原理框圖CANDT設(shè)備顯性輸入電壓限值測(cè)試原理框圖注：ISO11898-2標(biāo)準(zhǔn)中，要求增大差分電壓值的是電流源，由于電流源本身的輸出電容較大，系統(tǒng)響應(yīng)較慢，不適合來(lái)模擬電流源，這里使用電壓源串聯(lián)電阻的方式來(lái)等效電流源。CANDT測(cè)試流程隱性輸入電壓限值測(cè)試如測(cè)試原理框圖連接狀態(tài)，DUT和CANDT需正常通信；斷開(kāi)電壓源U3，調(diào)節(jié)電壓源U2，逐步將共模電壓調(diào)到6.5V或-2V，在此期間DUT應(yīng)能正常發(fā)送報(bào)文；調(diào)節(jié)電壓源U3，逐步將差分電平調(diào)到隱性電平上限值0.5V，判斷DUT是否能夠正常發(fā)送報(bào)文，若能，則表示測(cè)試通過(guò)。

HN7033A三通道直流電阻測(cè)試儀

   三通道直流電阻測(cè)試儀是用于大容量變壓器繞組直流電阻三相測(cè)量的儀器。該儀器可對(duì)變壓器繞組三相測(cè)試，對(duì)有載調(diào)壓變壓器可直接調(diào)節(jié)分接，不需要放電，測(cè)試時(shí)間為傳統(tǒng)方法的三分之一，解決了電力變壓器直流電阻測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)的難題。儀器采用大屏幕液晶顯示，中文菜單提示，配有打印機(jī)，且具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，方便數(shù)據(jù)的讀取和記錄，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，重復(fù)性好，抗干擾能力強(qiáng)，充放電速度快，是現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試變壓器直流電阻的選擇。關(guān)于光譜分析入門(mén)光譜分析是一種測(cè)量技術(shù)；它通過(guò)測(cè)量材料與不同波長(zhǎng)光的相互作用情況來(lái)檢查材料的屬性。有幾種不同的交互作用可被測(cè)量，包括材料對(duì)光的吸收、反射和透射。材料的特性可通過(guò)測(cè)量有多少光能被吸收以及哪些波長(zhǎng)的能量被吸收進(jìn)行分析。吸收的波長(zhǎng)取決于材料成分——脂肪、蛋白質(zhì)和不同類(lèi)型的糖分子——而吸收的強(qiáng)度由材料的內(nèi)部成分的濃度決定。根據(jù)由材料表面層反射光的強(qiáng)度和波長(zhǎng)，也可以對(duì)材料進(jìn)行定性分析，而反射光的強(qiáng)度和波長(zhǎng)由成分和表面本身的屬性決定。