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SuperViewW1非接觸3d光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),所具有技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)力在于接觸式和光學(xué)三維輪廓儀的結(jié)合。主要是用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外,具有測(cè)量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量,應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào):SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱:光學(xué)3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng):100萬~400萬像素可選
干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)
XY平臺(tái):行程140X100mm、200X200mm、300X300mm可選 尺寸 320X200mm、300X300mm、450X450mm可選
Z軸行程:100mm,電動(dòng)
Z向掃描范圍:10mm
Z向分辨率:0.1nm
可測(cè)樣品反射率:0.05%-100
水平調(diào)整范圍:±2°、±5°、±6°可選
粗糙度RMS重復(fù)性:0.005nm
臺(tái)階高測(cè)量:準(zhǔn)確度0.3%,重復(fù)性0.08% 1σ
主要特點(diǎn):非接觸式無損檢測(cè),一鍵分析、測(cè)量速度快
生產(chǎn)企業(yè):深圳市中圖儀器股份有限公司
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SuperViewW1非接觸3d光學(xué)輪廓儀可以同時(shí)有探針掃描和樣品臺(tái)掃描兩種模式。探針掃描利用電壓驅(qū)動(dòng)探針在大范圍達(dá)到500x500微米的區(qū)域內(nèi)移動(dòng)并且產(chǎn)生*分辨率的圖像。樣品臺(tái)掃描則是移動(dòng)樣品臺(tái)來產(chǎn)生高分辨率的圖像。只需要一鍵,就可以切換兩種模式??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。
主要應(yīng)用領(lǐng)域
1、用于太陽(yáng)能電池測(cè)量;
2、用于半導(dǎo)體晶圓測(cè)量;
3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測(cè)量;
4、用于機(jī)械部件的計(jì)量;
5、用于塑料,金屬和其他復(fù)合型材料工件的測(cè)量。