應(yīng)用領(lǐng)域 | 電氣 |
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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
山東省承試電力設(shè)備避雷器壓敏電阻測(cè)試儀
適用于氧化鋅避雷器(壓敏電阻),金屬陶瓷二、三電極放電管、真空避雷等過(guò)壓防護(hù)元件直流參數(shù)的測(cè)試。
具有記憶、運(yùn)算、保持、控制、自檢功能。
具有高壓短路保護(hù)、過(guò)流保護(hù)、高壓予置等功能。高壓自泄放時(shí)間小于1秒。
測(cè)試結(jié)果由31/2LCD數(shù)字顯示、準(zhǔn)確度高,可靠性好。
技術(shù)指標(biāo) | 測(cè)量范圍 | 工作誤差 | 測(cè)試條件 |
起始動(dòng)作電壓 U1mA | 15 ~ 100V | ≤±2V±1d | 1mA±5μA |
101~1700V | ≤±2%±1d | ||
漏電流 I 0.75U,1mA | 0.1~199.9μA | ≤2μA±1d | 0.75U1mA ≤±2%±1d |
放電管測(cè)量
技術(shù)指標(biāo) | 測(cè)量范圍 | 工作誤差 | 測(cè)試條件 |
放電電壓 | 20~1700V | ≤±2%±1d | 電壓上升率100±8V/秒 |
放電電壓記憶顯示時(shí)間 | 1.5~3.5秒 |
山東省承試電力設(shè)備避雷器壓敏電阻測(cè)試儀
使用方法
4.1使用“自動(dòng)"位測(cè)試壓敏電阻
4.1.1 開(kāi)啟電源,將面板“測(cè)試選擇"鍵置“壓敏電阻"位;將“U0.75選擇"鍵置“自動(dòng)"位,將面板“顯示切換"開(kāi)關(guān)置“電壓"位。
4.1.2 將被測(cè)壓敏電阻用測(cè)試線接入“測(cè)試孔"的“+"、 “-"端后輕觸高壓“啟動(dòng)"鍵,儀器顯示起始動(dòng)作電壓U1mA值,隨后按住“漏流"鍵不放,儀器顯示0.75U1mA電壓值,如果同時(shí)將面板“顯示切換"開(kāi)關(guān)置“電流"位后儀器顯示值為I 0.75U,1mA值;松開(kāi)“漏流"鍵,儀器將顯示流過(guò)被測(cè)壓敏電阻的電流約1mA。
4.1.3 輕觸高壓“停"鍵后取下被測(cè)壓敏電阻。
4.2 使用“人工"位測(cè)試壓敏電阻
4.2.1 將“測(cè)試選擇"鍵置“壓敏電阻"位;將“U0.75選擇"鍵置“人工"位;將“顯示切換"開(kāi)關(guān)置“電壓"位,開(kāi)啟電源和高壓后,調(diào)節(jié)“高壓預(yù)置"旋鈕,使儀器預(yù)置高壓值高于將被測(cè)試的壓敏電阻的標(biāo)稱值1.2倍以上,關(guān)閉高壓;接入被測(cè)壓敏電阻,此時(shí)啟、停高壓,可對(duì)多個(gè)類(lèi)似被測(cè)壓敏電阻進(jìn)行U1mA單一指標(biāo)的連續(xù)測(cè)試。
4.2.2 根據(jù)測(cè)得壓敏電阻U1mA值計(jì)算出0.75U1mA值,將儀器預(yù)置電壓調(diào)節(jié)到此值,再將“顯示切換"開(kāi)關(guān)置“電流"位, 此時(shí)不關(guān)閉高壓按住“漏流"鍵不放,接入U(xiǎn)1mA值相同的被測(cè)壓敏電阻進(jìn)行I 0.75U,1mA單一指標(biāo)的連續(xù)測(cè)試。
4.3 放電管測(cè)試
4.3.1 將“測(cè)試選擇"鍵置“放電管"位;“U0.75選擇"鍵置
“人工"位;開(kāi)啟電源和高壓。
4.3.2 調(diào)節(jié)“高壓預(yù)置"旋鈕。使儀器顯示的預(yù)置電壓值低
于被測(cè)放電管標(biāo)稱值100V以下,直起始位置(約15V)。
4.3.3 將被測(cè)放電管用測(cè)量線接入儀器“測(cè)試孔"“+"、“-"端鈕,輕觸“升壓"鍵,待綠色“放電"指示燈點(diǎn)亮,儀器顯示穩(wěn)定值為該放電管點(diǎn)火電壓值。
連續(xù)測(cè)試時(shí),須待預(yù)置電壓顯示值穩(wěn)定后,再啟動(dòng)“升壓"鍵。
4.4 其它功能
4.4.1 自檢功能, 在壓敏電阻測(cè)試過(guò)程中,變換“顯示切換"開(kāi)關(guān),可檢查本儀器測(cè)試條件技術(shù)參數(shù)的正確性。
4.4.2 “U0.75選擇"鍵置“人工"位,調(diào)節(jié)“高壓預(yù)置"旋鈕,使預(yù)置電壓緩慢上升,測(cè)試壓敏電阻時(shí)切換“顯示切換"開(kāi)關(guān),可給出該壓敏電阻的V/A特性曲線;測(cè)試放電管的點(diǎn)火電壓值,將100V/秒條件下的測(cè)試值與預(yù)置電壓緩慢上升點(diǎn)火值相比對(duì),可基本判定其特性。