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串聯(lián)諧振上海滬怡為您導讀：絕緣電阻測試儀（也稱為智能雙顯絕緣電阻測試儀）共有三種類型的用于測量絕緣電阻的測試，每種測試都采用其自己的方法，重點放在被測設(shè)備的特定絕緣特性上。用戶需要選擇適合測試要求的一種。
點測試：此測試適用于電容效應較小或可忽略的設(shè)備，例如短接線。
在較短的時間間隔內(nèi)施加測試電壓，直到達到穩(wěn)定的讀數(shù)為止，或者在固定的時間段（通常為60秒或更短）內(nèi)施加測試電壓。在測試結(jié)束時收集讀數(shù)。對于歷史記錄，將基于讀數(shù)的歷史記錄繪制圖表。對趨勢的觀察是在一段時間內(nèi)進行的，通常是數(shù)年或數(shù)月。
此測試通常是針對測試或歷史記錄執(zhí)行的。溫度和濕度的變化可能會影響讀數(shù)，必要時必須進行補償。
耐時測試：該測試適用于旋轉(zhuǎn)機械的預測性和預防性維護。
在特定時間（通常每隔幾分鐘）獲取連續(xù)的讀數(shù)，并比較讀數(shù)的差異。良好的絕緣將顯示電阻值的持續(xù)增加。如果讀數(shù)停滯不前，且讀數(shù)未如預期那樣增加，則絕緣可能較弱，可能需要引起注意。潮濕且受污染的絕緣體可能會降低電阻讀數(shù)，因為它們會增加測試期間的泄漏電流。只要在被測器件中沒有明顯的溫度變化，溫度對該測試的影響就可以忽略不計。
極化指數(shù)（PI）和介電吸收比（DAR）通常用于量化耐時測試結(jié)果。
極化指數(shù)（PI）
極化指數(shù)定義為10分鐘電阻值與1分鐘電阻值之比。建議將AC，DC旋轉(zhuǎn)機械在B，F(xiàn)和H類溫度下的PI的最小值設(shè)為2.0，而對于A類設(shè)備的PI的最小值應為2.0 。
注意：某些新的絕緣系統(tǒng)對絕緣測試的響應速度更快。它們通常從GΩ范圍的測試結(jié)果開始，得出PI在1和2之間。在這些情況下，可以忽略PI計算。如果1分鐘絕緣電阻高于5GΩ，則計算出的PI可能沒有意義。
階躍電壓測試：當設(shè)備的額定電壓高于絕緣電阻測試儀產(chǎn)生的可用測試電壓時，此測試特別有用。
逐步將不同的電壓電平施加到被測設(shè)備。建議的測試電壓比率為1：5。每個步驟的測試時間相同，通常為60秒，從低到高。此測試通常在低于設(shè)備額定電壓的測試電壓下使用。測試電壓電平的快速增加會在絕緣上產(chǎn)生額外的應力，并使弱點失效，從而導致較低的電阻值。
測試電壓選擇
由于絕緣電阻測試由高直流電壓組成，因此必須選擇適當?shù)臏y試電壓，以避免對絕緣施加過大的應力，否則可能導致絕緣故障。測試電壓也可能根據(jù)國際標準而變化。
