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SpecMetrix® 增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)為離線和在線涂層測試提供非接觸式、非破壞性和實時厚度測量。
由SpecMetrix提供,工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測試品牌,致力于創(chuàng)新的涂層厚度測量。
SpecMetrix®增強型實驗室系統(tǒng)為用戶提供高標準的非接觸、非破壞性和實時的絕對厚度測量數(shù)據(jù),適用于已應用的涂層和涂覆層。
簡化質(zhì)量控制流程 – 適用于離線和在線!
SpecMetix®增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)旨在簡化質(zhì)量控制流程,無論是在實驗室環(huán)境中的離線樣品測試,還是與周期性在線涂層驗證結(jié)合使用。它能夠幫助用戶防止成千上萬英尺的有缺陷材料,節(jié)省時間和成本。
· 離線測量:可通過單點和掃描模式進行。
· 周期性在線測量:通過使用帶有堅固探頭的磁性臂進行。
SpecMetrix增強型實驗室系統(tǒng)通過提高對多種基材的檢查,優(yōu)化了涂層工藝和質(zhì)量控制,非常適合試驗線、測試設施和頻繁換型的環(huán)境。它是多個行業(yè)的質(zhì)量控制實驗室和生產(chǎn)線中信賴的系統(tǒng)之一,提供亞微米級精度的絕對涂層厚度數(shù)據(jù)。
多功能測量能力
SpecMetrix®增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)是一個極其多功能的系統(tǒng),允許用戶測量幾乎任何涂層或涂覆層。
· 濕涂層或干涂層
· 清晰、著色或有色涂層
· 適用于任何基材的涂層,幾乎適用于任何行業(yè),包括柔性包裝、汽車、工業(yè)和金屬包裝
· 廣泛應用 – 實時測量單層或雙層涂層,或多層膜層,精度達到亞微米級
· 模塊化設計,具備從離線質(zhì)量控制測試到部分在線測量的即時測量能力
· 系統(tǒng)可全面升級為全在線系統(tǒng),用于連續(xù)在線使用
按需配置
SpecMetrix增強型實驗室系統(tǒng)相較于其他實驗室工具具有顯著優(yōu)勢。該系統(tǒng)配備一個堅固的探頭,可輕松安裝在任何涂布機或復合機上,并配有SpecMetrix在線測量軟件,結(jié)合了實時離線質(zhì)量控制樣品測試的優(yōu)勢以及在試驗線或涂層線上快速設置和質(zhì)量檢查。
模塊化設計使得重新配置變得簡單。該系統(tǒng)可以全面升級為全在線系統(tǒng)配置,適用于連續(xù)在線使用。
完整的涂層洞察
憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的ROI增強光學干涉技術(shù),用戶可以獲得樣品的完整涂層測量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)將允許您通過非接觸和非破壞性手段獲得涂層測量。
該技術(shù)也很安全——無放射性和無侵入性。我們的光學技術(shù)高度*,并在整個涂層行業(yè)中得到廣泛應用。
強大的SensorMetric軟件
作為測量分析的核心部分,我們用戶友好的軟件包將所有測量數(shù)據(jù)存儲到Excel®中,或與工廠網(wǎng)絡接口,以便在生產(chǎn)運行期間或之后進行SPC分析。
功能和優(yōu)點
· 靈活快速 – 模塊化設計使得離線或部分在線測量使用更快。
· 非接觸式 – 測量過程中不接觸涂層或基材,保持樣品和部件的完整性。
· 絕對厚度測量 – 超高精度的實時涂層和層厚度測量,加速樣品測試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。
· 基材獨立 – 可測量涂覆的部件及應用在透明、有色或著色基材上的涂層。
· 廣泛應用 – 實時測量單層或雙層涂層以及多層膜,精度達到亞微米級,適用于濕涂層或干涂層。
· 無危害性 – 采用非放射性和非侵入性ROI光學測量技術(shù)。
· 環(huán)保 – 非破壞性測試方法有助于減少廢料、返工勞動力和能源成本。
· 強大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包將所有數(shù)據(jù)存儲到Excel®中,或與工廠網(wǎng)絡接口,以便進行SPC分析。
規(guī)格
應用: 光學測試, 油墨與涂料, 涂層檢測, 涂層測試
材料: 油墨和涂料
測量范圍: 0.3至250微米(涂層厚度)
精度: 涂層厚度的±1%(標稱值)
測量速度: 每秒最多100次
溫度范圍: 0°至45°C
輸出指標: 微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令
操作系統(tǒng): Windows®平臺
制造: 美國制造
認證: CE認證、UL認證和CSA認證
系統(tǒng)組件: 處理單元、觸摸屏控制、操作員輸入鍵盤、樣品測試臺和固定器、光學探頭組件、實驗室探頭、堅固的在線探頭、磁性臂和安裝套件、NIST可追溯的厚度標準
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